研究目的
研究沉积在石墨烯上的NaT2薄膜的微观结构、形貌及生长过程，以及底层表面对NaT2分子晶体结构和取向的影响。
研究成果
NaT2的结构和晶体取向在很大程度上取决于底层表面及其质量。NaT2微晶在SiO2上呈面外直立状态，而在石墨烯表面则主要呈面内平铺状态。研究认为边缘取向相会形成初始润湿层，而面内取向相从沉积初始阶段便呈线性生长。
研究不足
在沉积初期阶段，信噪比不够高，导致难以检测最初几层分子内的瞬态结构。通过生长后测量无法可靠确定任何瞬态结构的寿命。
1：实验设计与方法选择：
在两种石墨烯表面沉积NaT2薄膜，并采用掠入射X射线衍射（GIXRD）和原子力显微镜（AFM）进行表征。
2：样品选择与数据来源：
使用定制的化学气相沉积（CVD）生长石墨烯层（转移至Si/SiO2衬底）及商用转移的CVD石墨烯（Si/SiO2基底）。
3：实验设备与材料清单：
GIXRD装置、原子力显微镜（Dimension 3100，Veeco）、紫外-可见分光光度计（Shimadzu UV-2700），以及配备360°圆柱形X射线铍窗的自制沉积腔室。
4：实验步骤与操作流程：
通过真空升华法沉积NaT2，沉积过程中衬底温度保持50°C，并实时进行GIXRD测量。
5：数据分析方法：
采用GIXSGUI和自主编写的MATLAB脚本处理GIXRD数据，AFM图像通过SPIP软件分析。
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