研究目的
研究银掺杂浓度对脉冲激光沉积法制备的纳米结构PbI2薄膜性能的影响，以及PbI2:Ag/Si光电探测器参数随银掺杂浓度的变化情况。
研究成果
用银掺杂PbI2薄膜可提升其光探测器应用性能。研究发现最佳掺杂浓度为1%银，该浓度能改善光探测器性能。更高掺杂浓度会导致结晶度下降和电阻率上升。研究表明银掺杂PbI2薄膜在高光电灵敏度异质结光探测器中具有应用潜力。
研究不足
该研究的局限性在于掺杂浓度范围（1%至5%银）以及脉冲激光沉积技术的特定条件。潜在的优化方向包括探索更高掺杂浓度和替代沉积方法。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用脉冲激光沉积（PLD）技术在玻璃和硅基底上制备纯碘化铅及掺杂碘化铅薄膜，探究掺杂浓度对薄膜特性与光电探测器性能的影响。
2：样品选择与数据来源：
使用不同银金属掺杂浓度（1%、3%和5%）的碘化铅粉末，在玻璃和硅基底上沉积薄膜。
3：1%、3%和5%）的碘化铅粉末，在玻璃和硅基底上沉积薄膜。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：Q开关Nd:YAG激光器、X射线衍射仪（XRD-6000，岛津）、原子力显微镜（AFM）、扫描电子显微镜（SEM，T-scan Vega III捷克产）、能量色散X射线光谱仪（EDX）、双光束紫外-红外分光光度计（210A）、拉曼系统（LabRam HR 800）、傅里叶变换红外光谱仪（IR-Affinity-1S，岛津）。
4：0）、傅里叶变换红外光谱仪（IR-Affinity-1S，岛津）。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：通过PLD技术在45°C下沉积薄膜，利用XRD、SEM、AFM、EDX、拉曼光谱和霍尔测量表征结构、形貌、光学及电学特性。
5：数据分析方法：
数据分析包括计算晶粒尺寸、应变、位错密度、光学带隙及电学特性。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
X-ray diffractometer
XRD-6000
Shimadzu
Used to examine the structure of the deposited films.
暂无现货
预约到货通知
-
Fourier transformed infrared spectrometer
IR-Affinity-1S
Shimadzu
Used to investigate the chemical assignments of the films.
立即获取同款设备
-
Q-switched Nd:YAG laser
Used for pulsed laser deposition of PbI2 films.
暂无现货
预约到货通知
-
Atomic force microscopy
Digital Instruments Nanoscope II
Used to study the morphology of the films.
暂无现货
预约到货通知
-
Scanning electron microscope
T-scan Vega III
Czech
Used to study the morphology and elemental mapping of the films.
暂无现货
预约到货通知
-
Energy dispersive X-ray
Used to determine the chemical composition of the films.
暂无现货
预约到货通知
-
Double–beam UV-IR spectrophotometer
210A
Used to study the optical absorption of the films.
暂无现货
预约到货通知
-
Raman system
LabRam HR 800
Used to investigate Raman spectroscopy of the films.
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余6件设备及参数对照表
查看全部
