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[IEEE 2019国际微波光子学专题会议(MWP) - 加拿大安大略省渥太华(2019.10.7-2019.10.10)] 2019国际微波光子学专题会议(MWP) - 非线性对MUTC光电探测器中不同调制深度RF调制频率梳的影响

DOI：10.1109/mwp.2019.8892212 出版年份：2019 更新时间：2025-09-19 17:13:59
摘要： 我们计算了改进型单行载流子（MUTC）光电探测器中的非线性效应对采用短光脉冲产生的射频调制频率梳的影响。考虑到由于高峰均功率比而具有重要作用的漂白效应（非线性饱和）。射频调制连续波的非线性损伤通过二阶和三阶互调失真（IMD2和IMD3）来表征。相比之下，射频调制频率梳的每个梳线n则具有独特的IMD2n和IMD3n。我们研究了调制深度对频率梳非线性效应的影响，比较了4%和8%的调制深度。当考虑漂白效应时，我们发现对于频率高于2 GHz（n≥40）的梳线，其第n阶梳线的三阶截点OIP3n随着调制深度的增加而提高，从而使失真减小。我们表明，这一效应的产生是因为漂白效应对低频的衰减比对高频更显著，且这种优先衰减会随着调制深度的增加而增强。
作者： Seyed Ehsan Jamali Mahabadi，Thomas F. Carruthers，Curtis R. Menyuk，Meredith N. Hutchinson，Jason D. McKinney，Keith J. Williams
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

为了计算改进型单行载流子（MUTC）光电探测器中的非线性对使用短光脉冲产生的射频调制频率梳的影响，同时考虑调制深度对频率梳非线性的影响。

研究成果

研究表明，在包含漂白效应的情况下，当频率超过2 GHz时，OIP3n会随着调制深度的增加而升高，从而导致失真降低。该效应归因于漂白对低频的衰减强于高频，且这种优先衰减会随调制深度的增加而增强。

研究不足

该研究聚焦于非线性和调制深度对MUTC光电探测器中射频调制频率梳的影响，并针对脉冲持续时间和重复频率等特定条件展开分析。未来工作中需考虑响应度降低对信噪比产生的负面影响。

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