研究目的
通过等离子体增强原子层沉积法,在低于500°C的温度下于c面蓝宝石上生长出具有高等离激元品质的氮化钛(TiN),从而开发出可扩展且与CMOS工艺兼容的等离激元材料。
研究成果
采用等离子体增强原子层沉积法(PE-ALD),在低于500°C的温度下于c面蓝宝石衬底上成功制备出具有高等离激元品质的氮化钛(TiN)薄膜,其等离激元品质因数(FoM)高达2.8,电阻率为31 μΩ·cm。优化后的生长条件包括:衬底温度450°C、化学吸附时间0.5秒、等离子体曝光时间25秒。该研究还证实了通过TiN薄膜中制造的亚波长孔径可实现非凡透射现象,凸显了TiN在实际等离激元器件应用中的潜力。
研究不足
该研究的局限性在于等离子体暴露时间延长会导致杂质浓度降低与缺陷密度增加之间的权衡,从而影响TiN薄膜的光学特性。此外,采用在约450°C温度下快速分解的TDMAT前驱体,可能会限制更高温度下薄膜的质量。
1:实验设计与方法选择:
本研究探讨了化学吸附时间、衬底温度和等离子体暴露时间对等离子体增强原子层沉积(PE-ALD)生长的TiN薄膜材料性能的影响。
2:样品选择与数据来源:
使用PE-ALD在c面蓝宝石衬底上生长TiN薄膜,化学吸附时间、衬底温度和等离子体暴露时间各不相同。
3:实验设备与材料清单:
配备远程等离子体源的PE-ALD(Veeco Fiji G2)、四(二甲基氨基)钛(IV)(TDMAT)前驱体、N2等离子体、c面蓝宝石衬底。
4:2)、四(二甲基氨基)钛(IV)(TDMAT)前驱体、N2等离子体、c面蓝宝石衬底。
实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:每个ALD循环包括向加热的蓝宝石衬底脉冲注入TDMAT前驱体,随后暴露于N2等离子体。关键生长参数为化学吸附时间、衬底温度和等离子体暴露时间。
5:数据分析方法:
使用J.A. Woollam M-2000可变角光谱椭偏仪(VASE)通过同步拟合SE和透射数据进行光学表征?;С煞滞ü齒射线光电子能谱(XPS)测定,材料结构质量通过高分辨率ω-2θ和ω摇摆曲线X射线衍射(XRD)测量研究。电阻率值通过0.5 T下的霍尔效应测量确定。
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