研究目的
研究2,7,12,17-四叔丁基-5,10,15,20-四氮杂-21H,23H-卟啉（TTBTP）柔性纳米有机薄膜的形成与性质及其在光电子学中的应用。
研究成果
通过热蒸发法制备的TTBTP薄膜展现出光电子应用方面的优异特性，包括纳米级结构、半导体行为以及宽波段紫外-可见吸收。该薄膜具有两种具有不同激活能的导电机制，表明其在有机光伏器件中具有潜在应用价值。
研究不足
本研究仅限于通过热蒸发法制备的TTBTP薄膜的表征。未探讨其他沉积方法或条件对薄膜性能的潜在影响。
1：实验设计与方法选择：
TTBTP薄膜采用高真空条件下的热蒸发技术制备。
2：样品选择与数据来源：
TTBTP粉末购自Sigma-Aldrich公司。
3：实验设备与材料清单：
高真空镀膜系统（Auto HHV306）、傅里叶变换红外光谱仪（Bruker Vector 22）、扫描电子显微镜（JOEL扫描系统）、X射线衍射仪（Philips衍射仪1710）、紫外-可见分光光度计（Jenway，型号6800，英国）以及用于电阻测量的Keithley 610。
4：6）、傅里叶变换红外光谱仪（Bruker Vector 22）、扫描电子显微镜（JOEL扫描系统）、X射线衍射仪（Philips衍射仪1710）、紫外-可见分光光度计（Jenway，型号6800，英国）以及用于电阻测量的Keithley 610。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：薄膜沉积于厚度为150纳米的聚醋酸酯柔性基底上，分析了分子结构、表面形貌、晶体结构、光学及电学性能。
5：数据分析方法：
晶粒尺寸通过谢乐公式计算，光学吸收系数和能隙由吸收光谱确定，电导率通过电阻测量计算得出。
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FTIR spectrometer
Bruker Vector 22
Bruker
Used to obtain FTIR spectra of TTBTP powder and films.
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SEM
JOEL scan system
JOEL
Used to examine the surface morphology of TTBTP films.
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Electrical resistance measurement device
Keithley model 610
Keithley
Used for measuring the electrical resistance of TTBTP films.
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TTBTP powder
Sigma-Aldrich
Used as the primary material for film preparation.
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Polyacetate sheets
Sigma-Aldrich
Used as flexible substrates for film deposition.
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High-vacuum coating system
Auto HHV306
Used for the thermal evaporation of TTBTP films.
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X-ray diffractometer
Philip’s diffractometer 1710
Philip’s
Used for crystal structural analysis of TTBTP films.
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UV-VIS spectrophotometer
Jenway, Model 6800
Jenway
Used to measure the absorbance of TTBTP films.
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