研究目的
通过掺杂Sc来改性β-Ga2O3,形成三元(ScGa)2O3合金,以开发具有低暗电流和高响应速度的高性能紫外光电探测器。
研究成果
Sc合金化策略能有效拓宽(ScGa)?O?合金的带隙,同时减少本征载流子和氧空位,从而研制出具有低暗电流和高响应速度的高性能紫外光电探测器。
研究不足
实验的技术和应用限制包括:随着Sc含量进一步增加,氧空位大幅减少导致光电导增益降低,从而引起探测灵敏度下降。
1:实验设计与方法选择:
采用脉冲激光沉积法在c面蓝宝石衬底上制备了高质量(201)取向的SGO合金薄膜。
2:样品选择与数据来源:
在c面蓝宝石衬底上沉积了b-Ga2O3和SGO薄膜(厚度约150纳米)。
3:实验设备与材料清单:
使用布鲁克D8 Discover X射线衍射仪、QUANTAX能谱仪、场发射扫描电子显微镜、Solver Nano NT-MDT原子力显微镜、岛津UV3600 Plus紫外-可见-近红外分光光度计、Keithley 2635源表以及150瓦低压紫外增强氙灯。
4:实验步骤与操作流程:
薄膜在700°C衬底温度和4帕氧压下沉积,沉积后生长平行金电极。
5:数据分析方法:
分析了晶体结构、成分、表面形貌、光学特性和光电特性。
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获取完整内容-
Bruker D8 Discover X-ray diffractometer
D8 Discover
Bruker
Determining crystal structures of the SGO and b-Ga2O3 ?lms
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QUANTAX EDS
QUANTAX EDS
Bruker
Examining compositions of the SGO alloy ceramics and ?lms
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FE-SEM
Sigma 500
Zeiss
Field-emission scanning electron microscope
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UV3600 Plus UVeViseNIR spectrophotometer
UV3600 Plus
Shimadzu
Measuring the optical properties
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Keithley 2635 Source Meter
2635
Keithley
Measuring the photoelectric characteristics of PDs
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AFM
Solver Nano NT-MDT
NT-MDT
Characterizing the surface morphology and roughness of the ?lms
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UV-enhanced xenon lamp
Providing UV illumination for photoelectric characteristics measurement
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