研究目的
利用光学泵浦/太赫兹探测光谱技术研究高电场下GaAs/In0.2Ga0.8As核壳纳米线的电子输运特性。
研究成果
研究表明,在高电场下,GaAs/In0.2Ga0.8As核壳纳米线中的电子输运以谷间电子散射为特征,导致平均电子有效质量加倍且电子迁移率降低。有效质量的增加沿纳米线分布不均,主要集中于其中段。这些发现凸显了基于GaAs的纳米线在太赫兹频段纳米器件中的应用潜力。
研究不足
该研究的局限性在于难以接触纳米级器件,以及高场运行状态下产生的强烈散热效应。此外,沿纳米线有效质量分布的建模过于简化,未考虑连续分布情况。
1:实验设计与方法选择:
采用宽带太赫兹脉冲(峰值电场高达0.6 MV/cm)的光学泵浦/太赫兹探测光谱技术来研究电子输运特性。
2:6 MV/cm)的光学泵浦/太赫兹探测光谱技术来研究电子输运特性。
样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:使用分子束外延技术在Si(111)衬底上生长了长约2微米的未掺杂GaAs/In0.2Ga0.8As核壳纳米线。
3:2Ga8As核壳纳米线。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:实验装置包括用于初步表征的250 kHz重复频率激光系统,以及用于高场太赫兹测量的装置。
4:实验步骤与操作流程:
光子能量为1.55 eV的近红外泵浦光在纳米线中产生电子-空穴等离子体,记录不同泵浦-探测延迟时间下延迟太赫兹探测脉冲透射率的变化。
5:55 eV的近红外泵浦光在纳米线中产生电子-空穴等离子体,记录不同泵浦-探测延迟时间下延迟太赫兹探测脉冲透射率的变化。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:按标准流程计算光电导率,并通过洛伦兹函数拟合等离子体共振以提取散射率、局域表面等离子体频率和光谱权重等参数。
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