研究目的
采用温度和激光功率依赖的光致发光光谱研究宽带隙Cu2CdGeS4微晶的缺陷结构。
研究成果
研究表明，Cu2CdGeS4微晶表现出具有浅能级和深能级缺陷的施主-受主对复合特性，由于不存在深势阱或带隙波动，该材料展现出光伏应用潜力。
研究不足
该研究仅限于分析Cu2CdGeS4微晶中的缺陷特性，并未探讨该材料在实际光伏器件中的性能。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用温度和激光功率依赖的光致发光光谱分析Cu2CdGeS4微晶体的缺陷结构。
2：样品选择与数据来源：
使用市售前驱体合成了高质量的Cu2CdGeS4微晶体，并通过XRD、EDX、拉曼光谱和PL测量进行表征。
3：实验设备与材料清单：
设备包括Rigaku Ultima IV衍射仪、Zeiss Merlin高分辨扫描电子显微镜、Horiba LabRAM HR800显微拉曼系统以及用于PL测量的闭循环氦低温恒温器。
4：实验步骤与操作流程：
合成并表征微晶体后，在不同温度和激光功率下进行PL测量以研究其缺陷特性。
5：数据分析方法：
采用分裂皮尔逊VII函数拟合分析PL光谱，并通过阿伦尼乌斯图确定热激活能。
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获取完整内容-
Rigaku Ultima IV diffractometer
Ultima IV
Rigaku
Used for x-ray diffraction analysis to determine the crystal structure of the studied CCGS.
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Zeiss Merlin high-resolution scanning electron microscope
Merlin
Zeiss
Used for Energy Dispersive x-ray spectroscopy (EDX) to determine the elemental composition of microcrystals.
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LakeShore 321 temperature controller
321
LakeShore
Used to control the sample temperature during PL measurements.
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Horiba LabRAM HR800 Micro-Raman system
LabRAM HR800
Horiba
Used for Raman and micro-PL measurements to analyze the phase composition of CCGS microcrystals.
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closed-cycle helium cryostat
CCS-150
Janis
Used to measure temperature dependencies of the PL spectra at temperatures from 10 K to 300 K.
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