研究目的
对Bi2O3-TiO2-MgO三元体系的研究,按Ti4++Bi3+比例合成材料以通过XRD确定硅铍石型结构,并探究MgO添加对电导率的影响。
研究成果
在三元体系Bi2O3–TiO2–MgO中成功合成了西伦石相。所合成组合物的电学性能可通过包含恒定相位元件和沃伯格阻抗的阻抗模型进行描述。在600°C下,Bi0.9Ti0.1O1.55表现出最高电导率(σ=1.39E?07)。电学测量结果表明这些材料是良好的绝缘体,可用于工业应用。
研究不足
该组合物的低导电性是由于氧缺陷数量的减少,以及可能存在的Ti4+和Mg2+单相阻止了氧相的循环。
1:实验设计与方法选择:
采用固相反应法合成。通过FullProf程序运用Rietveld方法对粉末数据进行结构精修。
2:样品选择与数据来源:
按化学计量比混合Bi2O3、TiO2和MgO制备粉末晶体样品。
3:TiO2和MgO制备粉末晶体样品。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:Philips X’Pert PRO衍射仪、Zeiss Gemini supra 40 VP扫描电镜、SOLARTRON SI 1260阻抗谱仪。
4:实验步骤与操作流程:
原料在玛瑙研钵中研磨后,分别于700、750和800°C进行24小时热处理(含多次中间研磨并淬火)。
5:750和800°C进行24小时热处理(含多次中间研磨并淬火)。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:利用FullProf程序的伪Voigt函数分析粉末X射线衍射图谱进行结构研究。
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