研究目的
开发一种针对尺寸为数毫米、精度达到亚像素或亚微米级的微结构进行三维(3D)测量的方法。
研究成果
实验结果表明,所提出的方法能够在毫米尺度上以亚像素(圆柱阵列最大1.40微米,对应0.40像素尺寸)甚至亚微米(网格阵列最大0.42微米,阶梯母模最大0.83微米)的测量精度获取微观结构的3D信息。
研究不足
测量误差主要源于圆柱阵列上的圆并非标准圆形,且圆心坐标提取存在一定偏差。各层级的误差分布相对均匀,但最大绝对误差不超过4.88微米。
研究目的
开发一种针对尺寸为数毫米、精度达到亚像素或亚微米级的微结构进行三维(3D)测量的方法。
研究成果
实验结果表明,所提出的方法能够在毫米尺度上以亚像素(圆柱阵列最大1.40微米,对应0.40像素尺寸)甚至亚微米(网格阵列最大0.42微米,阶梯母模最大0.83微米)的测量精度获取微观结构的3D信息。
研究不足
测量误差主要源于圆柱阵列上的圆并非标准圆形,且圆心坐标提取存在一定偏差。各层级的误差分布相对均匀,但最大绝对误差不超过4.88微米。
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