研究目的
研究CaTiO3对(K,Na)NbO3–(Bi1/2Na1/2)ZrO3–CaTiO3无铅压电陶瓷相结构、压电性能及温度稳定性的影响,以开发高性能材料。
研究成果
添加CaTiO3能有效将正交-四方相变温度降至室温以下,从而提升KNN基陶瓷的压电性能和温度稳定性。当x=0.02时陶瓷表现出最佳性能,这为开发具有综合平衡特性的无铅压电材料提供了可行途径。
研究不足
该研究聚焦于CaTiO3含量在特定范围(x = 0至0.05)内的影响,可能未涵盖所有潜在成分或条件。温度稳定性有所提升,但在更高温度下仍可能存在局限。
1:实验设计与方法选择:
采用传统固相法,通过特定原料和烧结条件制备陶瓷,以研究CaTiO3含量的影响。
2:样品选择与数据来源:
制备并表征了不同CaTiO3含量(x = 0至0.05)的样品。
3:05)的样品。 实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:X射线衍射仪(布鲁克D8高级型)、扫描电子显微镜(JSM-7500)、LCR分析仪(HP 4980)、P-E电滞回线测试仪(TF-2000)、准静态d33测量仪(ZJ-3A)及阻抗分析仪(HP 4194A)。
4:0)、LCR分析仪(HP 4980)、P-E电滞回线测试仪(TF-2000)、准静态d33测量仪(ZJ-3A)及阻抗分析仪(HP 4194A)。 实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:包括称量、球磨、干燥、煅烧、压片、烧结、涂银电极及极化处理。
5:数据分析方法:
采用Maud软件通过Rietveld精修法分析XRD数据;测量并分析介电与压电性能。
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LCR analyzer
HP 4980
Agilent
Measuring the temperature dependence of εr and tanδ
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Impedance analyzer
HP 4194A
Agilent
Testing the kP of the samples
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X-ray diffraction
Bruker D8 Advanced XRD
Bruker AXS Inc.
Testing the phase structure of the ceramics
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Scanning electron microscope
JSM-7500
Japan
Characterizing the surface microstructure of the ceramics
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Quasi-static d33 meter
ZJ-3A
China
Testing the d33 of the samples
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