研究目的
利用扫描电子显微镜中的阴极发光技术研究"断裂"暗等离子体激元模式的探测与成像。
研究成果
使用CL进行高光谱成像是检测和绘制因不对称性而获得偶极分量的"断裂"暗等离子体模式的有效方法。该技术为纳米尺度缺陷对等离子体器件的影响提供了重要见解。
研究不足
阴极荧光（CL）和电子能量损失谱（EELS）技术的空间分辨率受限于倏逝场的空间范围，该范围根据电子束能量不同约为10纳米量级。阴极荧光中暗模式的检测取决于其因不对称性而获得净偶极共振。
1：实验设计与方法选择：
采用电子束光刻制备金纳米棒三聚体，通过高光谱阴极荧光（CL）研究不对称性对暗等离子体模式的影响。
2：样本选择与数据来源：
使用具有对称结构及引入不对称性的金纳米棒三聚体。
3：实验设备与材料清单：
配备30 keV束能和500 pA电流的FEI Nova Nanosem扫描电镜，以及搭载Andor Shamrock 303i光谱仪和Andor iVac光谱相机的Delmic SPARC系统。
4：实验流程与操作步骤：
收集三聚体的阴极荧光信号，通过分析特定波长范围内的平均强度来绘制等离子体模式的空间分布图。
5：数据分析方法：
解析采集的CL数据，绘制特定波长范围内特征的强度分布，以显示"断裂"暗模式和辐射偶极模式的存在。
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获取完整内容-
FEI Nova Nanosem
Nova Nanosem
FEI
Scanning electron microscope used for imaging and excitation of samples.
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Andor Shamrock 303i spectrometer
Shamrock 303i
Andor
Spectrometer used for analyzing the collected light.
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Andor iVac spectral camera
iVac
Andor
Camera used for capturing spectral data.
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Delmic SPARC system
SPARC
DELMIC
System for collecting cathodoluminescence.
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