研究目的
研究不同封端剂对化学共沉淀法合成的SnO2纳米粒子在结构、形貌、组成及光致发光性能方面的影响。
研究成果
采用不同表面活性剂通过化学共沉淀法成功制备了SnO2纳米颗粒。XRD和FTIR研究表明多晶SnO2纳米颗粒具有四方金红石结构。SEM图像显示存在团聚现象，其中EDTA包覆样品的团聚程度略有降低。EDAX证实了样品的有效成分组成。PL研究揭示EDTA包覆的SnO2纳米颗粒发光强度增强，表明其在发光技术应用方面具有潜力。
研究不足
该研究聚焦于封端剂对SnO2纳米颗粒性能的影响，但未探讨合成方法的可扩展性或这些纳米颗粒在特定器件中的应用。
1：实验设计与方法选择：
采用化学共沉淀法，以SnCl2·2H2O为反应原料，分别使用不同表面活性剂（EDTA、PVP、PVA）合成SnO2纳米颗粒。实验过程包括在90°C下搅拌、用NaOH调节pH至9、去离子水洗涤及80°C真空干燥。
2：去离子水洗涤及80°C真空干燥。 样品选择与数据来源：
2. 样品选择与数据来源：使用分析纯级化学试剂，未经进一步提纯。
3：实验设备与材料清单：
Rigaku D型X射线衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪（FTIR-4700型）、配备于卡尔蔡司EVO MA 15扫描电子显微镜的牛津Inca Penta FeTX3能谱仪、PTI（光子技术国际公司）荧光光谱仪。
4：实验步骤与操作流程：
合成过程包括将SnCl2·2H2O溶于去离子水、加入NaOH调节pH、搅拌、洗涤及干燥。
5：数据分析方法：
XRD用于结构分析，FTIR用于结构验证，SEM用于形貌观察，EDAX用于成分分析，PL用于发光性能表征。
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Carl Zeiss EVO MA 15 scanning electron microscope
EVO MA 15
Carl Zeiss
Used for analyzing surface morphology of the prepared samples.
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Rigaku D X-ray diffractometer
Rigaku
Used for collecting X-ray diffraction patterns of the samples.
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Fourier transform infrared spectrophotometer
FTIR-4700typeA
Used for FTIR studies to confirm the structural properties of SnO2 nanoparticles.
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Oxford Inca Penta FeTX3 EDAX instrument
Oxford
Attached to Carl Zeiss EVO MA 15 scanning electron microscope for surface morphology and elemental composition analysis.
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PTI (Photon Technology International) Fluorimeter
Photon Technology International
Used for recording photoluminescence spectra in the wavelength range of 400–600 nm.
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