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在钠钙玻璃衬底上直接低温制备二硫化钼薄膜的工艺

DOI:10.1166/jnn.2019.16231 期刊:Journal of Nanoscience and Nanotechnology 出版年份:2019 更新时间:2025-09-04 15:30:14
摘要: 为避免转移工艺导致的机械问题,采用直流磁控溅射与快速热处理(RTP)替代传统化学气相沉积(CVD)工艺制备二硫化钼(MoS2)图案。为在600°C以下温度的钠钙玻璃衬底上形成MoS2薄膜,研究团队通过调节不同直流溅射功率沉积MoS2薄膜,并在400-550°C区间进行退火处理。扫描电镜(SEM)与原子力显微镜(AFM)结果表明,MoS2薄膜表面形貌随溅射功率及膜厚变化呈现显著差异。拉曼光谱显示E1 2g和A1 g特征峰分别出现在约372 cm?1和400 cm?1处,证实MoS2表面沿面内方向结晶。X射线光电子能谱(XPS)分析表明,在600°C以下RTP处理后,S 2p(2p 1/2, 2p 3/2)和Mo 3d(3d 3/2, 3d 5/2)特征峰均呈现稳定结合能。霍尔效应测试显示所有MoS2薄膜均具有优异的载流子迁移率与载流子浓度特性。
作者: Sang Min Ma,Sang Jik Kwon,Eou-Sik Cho
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研究概述 实验方案 设备清单

采用直流溅射和快速热处理(RTP)技术在600°C以下温度条件下,研究钠钙玻璃衬底上MoS2薄膜的直接形成过程,并分析其结构与电学性能。

采用直流溅射和快速热退火工艺,在钠钙玻璃衬底上成功实现了低温二硫化钼薄膜的制备。该薄膜展现出优良的结构与电学性能,通过优化低功率直流溅射及500°C以上退火温度可获得更佳特性。

该研究仅限于600°C以下的温度范围,且未深入探究垂直于平面方向的结晶度。

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