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表面热透镜技术中弱吸收缺陷的快速成像多通道平均检测方法

DOI:10.1063/1.5047260 期刊:Review of Scientific Instruments 出版年份:2018 更新时间:2025-09-04 15:30:14
摘要: 表面热透镜技术(STL)是一种高灵敏度的泵浦-探测技术,用于光学材料中弱吸收缺陷的光热特性表征。通常在泵浦光束中施加频率调制,然后通过锁相放大器检测探针光束上以强背景为基底的小幅调制STL信号。然而,通过在频域滤波进行锁相检测会导致STL效率低下,阻碍了大面区域的检测研究。本文表明,对应于时间积分的多通道平均法更适合STL信号检测。实验证明,将传统单点扫描STL改进为线扫描STL,并采用合适的时间仓宽度和记录次数,在相同6分贝信噪比和20微米成像分辨率条件下,多通道平均检测的成像速度可比锁相检测提高3.7倍。因此能以更高效率和更低激光辐照度记录弱吸收缺陷的高质量光热图像,从而实现对大尺寸样品的检测。
作者: Jingtao Dong,Rongsheng Lu,Tengda Zhang,Lei Yang,Yuzhong Zhang,Zhouling Wu,Jian Chen
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研究概述 实验方案 设备清单

采用多通道平均检测替代锁相放大检测,以提高表面热透镜法(STL)检测光学材料中弱吸收缺陷的成像速度与效率。

多通道平均检测显著提升了STL技术在光学材料中检测弱吸收缺陷的成像效率,在相同信噪比和分辨率条件下,其成像速度比锁相检测快3.7倍。这一进步使得以更低激光辐照度获取更高质量的光热图像成为可能,从而便于对更大尺寸样品进行研究。

该研究受到泵浦激光器和探测激光器噪声的限制,这影响了信噪比(SNR),需要通过增加平均次数来进行补偿。激光器的长期功率稳定性也会导致STL信号出现漂移。

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