研究目的
研究ZnO/Zn(S,O)异质结构纳米棒的合成、微观结构及光学性能。
研究成果
已合成具有良好取向的ZnO/Zn(S,O)异质结构纳米棒，其典型特征为底部富ZnS、顶部富ZnO的异质结结构。这些纳米棒在界面处呈现连续的组分梯度，并展现出独特的 光学特性，在高性能光电子纳米器件和清洁能源领域具有重要应用前景。
研究不足
该研究聚焦于ZnO/Zn(S,O)异质结构纳米棒的合成与表征，但其在光电器件中的实际应用尚未深入探索。
1：实验设计与方法选择：
在常规水平电阻炉中，以高纯度ZnS和ZnO粉末为前驱体，生长取向一致的ZnO/Zn(S,O)异质结构纳米棒。
2：样品选择与数据来源：
采用化学抛光表面的硅片作为衬底。
3：实验设备与材料清单：
X射线衍射仪（XRD，Rigaku RINT 2000）、扫描电子显微镜[SEM，JEOL，JSM-6700F]、配备X射线能谱仪（EDS）的高分辨场发射透射电子显微镜[TEM，FEI，Tecnai G2 F20]。
4：0）、扫描电子显微镜[SEM，JEOL，JSM-6700F]、配备X射线能谱仪（EDS）的高分辨场发射透射电子显微镜[TEM，FEI，Tecnai G2 F20]。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：将石英管抽真空至10^-2 Pa并通入稳定氩气流，升温至1050°C保温30分钟。
5：数据分析方法：
通过XRD、SEM和TEM分析生长纳米棒的结构、形貌、微观结构及成分。
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X-ray diffractrometer
RINT 2000
Rigaku
Analyzing the structure of the as-grown nanostructures
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scanning electron microscope
JSM-6700F
JEOL
Analyzing the morphology of the as-grown nanostructures
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high-resolution field-emission transmission electron microscope
Tecnai G2 F20
FEI
Analyzing the microstructures of the as-grown nanostructures
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X-ray energy dispersive spectrometer
Analyzing the composition of the as-grown nanostructures
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