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光子计数 - 基础与应用 || 超分辨率与单分子荧光显微镜的探测器

DOI:10.5772/intechopen.71943 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:23:52
摘要: 根据恩斯特·阿贝的研究,光学显微镜的分辨率被认为被限制在250-300纳米。这种阿贝衍射极限曾被认为是不可逾越的,直到20世纪末超分辨率显微技术的发明。这些技术突破了这一限制,能够以纳米级精度呈现细胞结构和动态的前所未有的细节。该领域的一个新兴目标是定量测量单个分子。通过荧光涨落技术可以测量单分子动力学(如扩散系数和复杂化学计量比),从而揭示纳秒至微秒级的时间反应。这些强大的互补实验方法得益于灵敏的低光强光电探测器。本章概述了超分辨率与单分子显微镜的原理,阐释了这些技术采用的不同类型光电探测器,并讨论了这些探测器的优缺点及下一代探测器的发展。最后展示了利用这些探测器技术实现的超分辨率与单分子细胞研究实例。
作者: Robert T. Youker
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研究概述 实验方案 设备清单

概述超分辨率显微镜和单分子显微镜的原理,解释这些技术中使用的不同类型光电探测器,讨论它们的优缺点,并展示利用这些探测器的细胞研究实例。

光电探测器技术的进步通过提供高灵敏度、时间分辨率和低噪声,实现了超分辨率和单分子荧光显微技术。基于探针的超分辨率显微镜(SRM)首选电子倍增CCD(EMCCD)和科学级互补金属氧化物半导体相机(sCMOS),而点扩散函数工程化SRM和傅里叶变换技术(FFTs)常用雪崩光电二极管(APD)和混合探测器。未来发展方向旨在结合点探测器和阵列探测器的优势,并通过降噪算法提升信噪比。没有单一探测器适用于所有技术,研究人员应根据实验需求进行选择。

该论文是一篇综述,未提供原始实验数据,因此缺乏来自具体实验的技术限制或优化领域。它讨论了探测器技术的一般局限性,例如光电倍增管(PMT)的量子效率低、阵列探测器的噪声问题,以及信噪比交叉点需要通过经验确定等。

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