摘要： 目的：我们旨在检验XMM-牛顿卫星EPIC探测器pn与MOS仪器轴向有效面积的相对交叉定标精度。 方法：通过叠加46个明亮、高计数率、无堆积且孤立的轴向点源光谱样本，分析模型残差以表征EPIC MOS与pn仪器的互校准特性。 结果：MOS1与pn、MOS2与pn的校准结果整体高度相似。两台相机在1keV以下能区吻合度最佳——MOS相对于pn的超额量为0-2%（MOS1/pn）和0-3%（MOS2/pn）。3keV以上能区，MOS/pn比值呈现与能量无关（或仅轻微递增）的超额量，分别为7-8%（MOS1/pn）和5-8%（MOS2/pn）。此外在1-2keV区间存在"硅峰效应"——表现为2-4%（MOS1/pn）和3-5%（MOS2/pn）的能谱增强。测试表明所用方法具有稳定性和鲁棒性。 结论：本研究提供了迄今最精确的XMM-牛顿EPIC pn与MOS仪器有效面积交叉定标结果。这些发现指明了进一步研究MOS与pn差异成因的方向，并为未来EPIC相机的潜在校正与修正提供了依据。