研究目的
通过结合第一性原理计算与CALPHAD模型来模拟二元PbSe半导体的载流子浓度,从而理解和优化其热电性能。
研究成果
第一性原理计算表明,双电离空位是PbSe中的主要缺陷,与实验载流子浓度具有定性一致性。CALPHAD模型(5SL和2SL)显著提高了准确性,与实验数据高度吻合,并能预测优化热电性能的最佳工艺参数。该研究展示了DFT与CALPHAD在半导体建模中的协同效应。
研究不足
在富铅条件下,DFT计算低估了载流子浓度,在富硒条件下则高估了载流子浓度,这可能是由于平衡条件(固相与液相)的差异以及带隙预测的不准确性所致。未考虑自旋轨道耦合和振动熵,这些因素可能提高计算精度。该模型仅适用于二元PbSe体系,对于多组分系统可能需要调整。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用稀薄极限近似下的第一性原理密度泛函理论(DFT)计算缺陷形成能和载流子浓度。基于DFT参数和实验数据,开发并优化了五亚晶格(5SL)CALPHAD模型和二亚晶格(2SL)模型。
2:样品选择与数据来源:
通过计算模拟PbSe半导体;未使用实体样品。引用先前研究中关于载流子浓度和相图的实验数据进行验证。
3:实验设备与材料清单:
计算工具包括用于DFT计算的维也纳从头算模拟软件包(VASP)、投影缀加波(PAW)势、Perdew-Burke-Ernzerhof(PBE)泛函,以及用于CALPHAD建模的ThermoCalc软件。
4:实验流程与操作步骤:
对PbSe的3×3×3超胞进行DFT计算以确定缺陷形成能。通过强制电荷中性求得费米能级和载流子浓度。利用DFT结果参数化CALPHAD模型,并通过优化算法拟合实验数据。
5:数据分析方法:
数据分析包括对比DFT预测与实验测得的载流子浓度、优化CALPHAD参数,并通过溶解度极限和相图验证模型。
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