研究目的
为了阐明纤锌矿结构GaN、InN和AlN中动量和能量弛豫现象的基本物理过程,理解弛豫速率与电场和温度的关系,并明确弛豫过程中散射机制的作用。
研究成果
纤锌矿结构的GaN、InN和AlN中的动量和能量弛豫过程显著受电场和温度影响,在不同条件下由不同的散射机制主导。由于影响动量的散射机制更多,动量弛豫时间通常短于能量弛豫时间。非局域输运现象(如速度过冲和下冲)十分重要且随材料特性(特别是有效质量)而变化。这些发现可指导器件设计,并为半导体器件模拟中的能量平衡模型提供输入参数。
研究不足
该研究基于计算与模拟,可能无法完全反映实际器件的复杂性或实验差异。蒙特卡洛方法计算成本较高,限制了其在商用器件模拟器中的应用。本研究聚焦于体材料,可能不直接适用于二维电子气等特定器件结构,且所用参数来自文献,若代表性不足可能引入误差。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用经典的三谷蒙特卡罗方法模拟电子输运过程,具体使用系综蒙特卡罗(EMC)技术,基于玻尔兹曼方程分析电子的随机运动并计算动量和能量弛豫率。
2:样本选择与数据来源:
模拟对象为块体纤锌矿结构GaN、InN和AlN半导体,参数取自文献,详见论文表I和表II。
3:实验设备与材料清单:
未提及具体物理设备;本研究为计算工作,依赖蒙特卡罗模拟。
4:实验步骤与操作流程:
EMC方法模拟不同电场强度(从低到高值)和温度(200 K至600 K)下的电子行为,考虑散射机制包括电离杂质散射、声学形变势、压电极化、极性光学声子及谷间散射。弛豫率通过碰撞积分导出的统计公式计算。
5:数据分析方法:
通过绘制散射率、电子能量、电场和温度之间的关系图进行分析,部分分析采用对数坐标以解读弛豫率趋势。
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