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利用太赫兹时域光谱系统识别非导电涂层的厚度

DOI：10.3233/jae-171063 期刊：International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics 出版年份：2018 更新时间：2025-09-23 15:23:52
摘要： 有许多非破坏性的涂层评估方法。但其中只有少数适用于沉积在非导电元件上的涂层。本文介绍了太赫兹时域光谱技术在测量薄非导电涂层厚度方面的应用。为开发稳健的涂层厚度识别算法，我们开展了多项实验。实验采用装有少量油的金属容器作为试样，这种试样能方便地获得具有可变涂层厚度的样品。
作者： Tomasz Chady，Krzysztof Gor?cy
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

利用太赫兹时域光谱技术建立一种用于薄非导电涂层厚度识别的稳健算法。

研究成果

太赫兹方法在评估非导电涂层方面前景广阔，相较于其他无损检测技术具有优势。该方法可在每个测量点实现不足100毫秒的厚度测量，但要使其成为可靠有效的工具，仍需在扫描速度和数据处理方面取得进一步进展。目前已开发出用于厚度估算的校准曲线，不过这些曲线需要在有限范围内进行线性化处理。

研究不足

太赫兹方法的分辨率有限，导致来自薄涂层的信号成分几乎不可见。最薄的油膜因船体底部坏死而出现问题。校准曲线在整个厚度范围（30微米至2毫米）内并非完全线性，要实现可靠应用还需改进数据处理和扫描速度。

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