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[IEEE 2018年第38届电子与纳米技术国际会议(ELNANO)- 基辅(2018.4.24-2018.4.26)] 2018年IEEE第38届电子与纳米技术国际会议(ELNANO)- 石墨烯厚膜实验表征

DOI:10.1109/ELNANO.2018.8477446 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:23:52
摘要: 虽然石墨烯在太赫兹频段的等离激元特性已有广泛报道,但关于其在微波频段实际应用的研究却较为稀少。本文通过丝网印刷法制备了不同浓度(12.5 wt.%、25 wt.%和33 wt.%)石墨烯厚膜墨水用于沉积。利用扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)对薄膜表面形貌的详细研究表明:较高浓度的石墨烯薄膜呈现出填料均匀分散、表面粗糙度相对较低且团聚现象可忽略的特征。随后将这些薄膜印刷在射频电路常用FR-4基板的铜电极之间,并对实测散射参数进行了分析。
作者: Mario Risso,Andrea Crovetto,Maurizio Bozzi,Luca Pierantoni,Mariano Tacconi
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研究概述 实验方案 设备清单

通过丝网印刷制备并分析石墨烯厚膜,研究其在微波频段的实际应用价值。

石墨烯薄膜在高浓度下表现出均匀的分散性和较低的表面粗糙度,团聚现象可忽略不计,因而适用于微波频段的射频应用。

该研究仅限于微波频率和特定石墨烯浓度;对于其他频率或应用可能需要进一步优化。

SCI高频之选
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