研究目的
为扩展近零介电常数(ENZ)窄通道的隧穿效应,以匹配具有不同阻抗特性的两条微带线,从而为传统方法提供一种紧凑且高效的替代方案。
研究成果
基于ENZ的阻抗匹配电路在7.5 GHz等离子体频率下成功实现了不同阻抗(50Ω至100Ω及150Ω)微带线的匹配,获得8%-15%的带宽和低插入损耗(<0.2 dB)。应用于微带贴片天线时展现出良好的辐射效率和增益,具有实用价值。其紧凑的尺寸适用于集成电路和天线阵列,但精确频率调谐需考虑制造公差。
研究不足
带宽限制在8%-15%之间,具体取决于ENZ超材料的特性。制造公差(如基板介电常数变化)可能导致频率偏移。使用SMA连接器会引入插入损耗,若不进一步优化,该方法可能难以适用于极高频率的应用场景。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用ENZ超材料设计紧凑型阻抗匹配电路。通过基板集成波导(SIW)技术实现工作在TE10模式的矩形波导以构建ENZ介质。理论模型包含反射系数和有效介电常数的计算方程。
2:样本选择与数据来源:
使用阻抗为50Ω、100Ω和150Ω的微带线。仿真采用CST Microwave Studio软件完成,实测使用安捷伦N5230A矢量网络分析仪进行。
3:0Ω、100Ω和150Ω的微带线。仿真采用CST Microwave Studio软件完成,实测使用安捷伦N5230A矢量网络分析仪进行。 实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:基板包括RT-Duroid 5870(εr=2.33,厚度3.68 mm)和Rogers RO4003C(εr=3.38,厚度0.508 mm)。采用金属过孔和侧壁实现SIW结构。测量使用SMA连接器。
4:33,厚度68 mm)和Rogers RO4003C(εr=38,厚度508 mm)。采用金属过孔和侧壁实现SIW结构。测量使用SMA连接器。 实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:基于等离子体频率计算设计参数。完成电路制备后,经去嵌入和归一化处理测量S参数。同时集成并测试微带贴片天线。
5:数据分析方法:
通过S参数分析评估匹配性能。采用集总元件(如电容、电感)电路模型进行验证。根据|S11|和|S22|<-10 dB标准评估带宽。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Network Analyzer
N5230A
Agilent
Used for measuring S-parameters of the fabricated circuits.
-
Substrate
RT-Duroid 5870
Rogers
Dielectric material for microstrip lines and ENZ channel implementation.
-
Substrate
RO4003C
Rogers
Dielectric material for microstrip lines and antenna implementation.
-
Software
CST Microwave Studio
CST
Used for numerical simulations of the designed circuits and antennas.
-
Connector
SMA
Not specified
Used for connecting the fabricated circuits to measurement equipment.
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部