1：实验设计与方法选择：

相比其他方法，溶胶-凝胶法因其操作简便、成本低廉且无毒而被选用。该方法通过化学反应形成纳米颗粒。

2：样品选择与数据来源：

以四氯化铪（HfCl4）和氢氧化钠（NaOH）为前驱体，制备了摩尔浓度分别为0.05、0.10、0.15和0.2 M的样品。

3：15和2 M的样品。 实验设备与材料清单：

3. 实验设备与材料清单：四氯化铪（纯度98%，Alfa Aesar）、氢氧化钠（Spectrum）、蒸馏水、离心机、空气热烘箱、X射线衍射仪（CuKα辐射，λ=1.5406 ?，工作电压40 kV，电流30 mA）、扫描电子显微镜（SEM Philip XL 30）、傅里叶变换红外光谱仪、紫外-可见分光光度计（Lambda 35，Perkin）、光致发光光谱仪（F-2500 FL光谱仪，日立）、用于电导率测量的Keithley 2636 B源表。

4：5406 ?，工作电压40 kV，电流30 mA）、扫描电子显微镜（SEM Philip XL 30）、傅里叶变换红外光谱仪、紫外-可见分光光度计（Lambda 35，Perkin）、光致发光光谱仪（F-2500 FL光谱仪，日立）、用于电导率测量的Keithley 2636 B源表。 实验步骤与操作流程：

4. 实验步骤与操作流程：将HfCl4溶解于不同摩尔浓度的水溶液中，缓慢加入NaOH并持续搅拌3小时形成沉淀。沉淀经蒸馏水洗涤后，以3000 rpm离心20分钟，100°C干燥1小时，再经500°C煅烧2小时得到HfO2纳米颗粒。表征手段包括XRD（2θ范围30°至70°）、SEM、FTIR（范围4000-400 cm?1）、紫外-可见光谱（波长300-1000 nm）及光致发光测量。

5：数据分析方法：

采用谢乐公式分析XRD数据计算晶粒尺寸，推导立方晶系的晶格常数，计算微应变与位错密度；通过Tauc图解析紫外数据获取带隙能；解读FTIR光谱中的官能团特征；利用SEM图像进行形貌分析。