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通用测试装置通过实施多种重复性机械变形来评估柔性电子器件的可靠性

DOI:10.3390/mi9100492 期刊:Micromachines 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:22:29
摘要: 柔性电子设备的一项要求是它们在重复机械变形期间和之后保持其电性能。因此,在本研究中,开发了一种通用测试装置,用于对柔性电极进行原位电导率测量,该装置能够施加各种机械变形,如弯曲、扭转、剪切、滑动、拉伸以及由两种同时变形组成的复杂模式。还提出了一种以弧形变形试样以在单一和交替方向上诱导均匀弯曲应力的新方法,并配有数学推导的控制方法。作为弧形弯曲方法的一个示例,通过施加重复的内弯曲、外弯曲和交替内外弯曲,测量了印刷射频识别(RFID)标签天线的电阻变化。经过5000次循环后,仅经受内弯曲或外弯曲的试样的电阻增加在30%以下;然而,经受交替内外弯曲的试样的电阻增加了135%。在柔性电子设备商业化之前,确定其在各种机械变形下的可靠性至关重要。所提出的测试装置可以轻松提供各种变形,这将有助于为设备形状和结构的设计提供信息,以适应使用过程中的变形。
作者: Cheol Kim,Chung Hwan Kim
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研究概述 实验方案 设备清单

开发一种通用测试装置,用于在各种重复机械变形下对柔性电子器件进行原位电导率测量,并评估其可靠性,特别关注一种新型弧形弯曲方法以产生均匀应力。

研发的通用测试装置能有效施加多种机械形变并原位测量电阻变化。新型弧形弯曲方法提供均匀应力,揭示出内外交替弯曲导致的电阻增幅(135%)显著高于一侧弯曲(低于30%),这凸显了为确保商用柔性电子器件可靠性需进行双侧弯曲测试的必要性。未来工作应探索复杂模式及其他器件。

弧形弯曲法不适用于亚毫米级的极小曲率,该方法专为大面积器件设计。该装置在模拟所有可能的现实变形方面可能存在局限性,且本研究聚焦于RFID标签,而非其他柔性器件。

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