研究目的
开发一种从热载流子弛豫时间和电子-空穴对量子产率(QY)的实验数据中提取独特载流子倍增(CM)速率常数的方法,并将该方法应用于PbSe量子点。
研究成果
本文提出了一种通过弛豫时间和量子产率实验数据确定CM速率常数的方法,并将其应用于PbSe量子点,得出k_CM = (0.91 ± 0.05)ΔE^(1.5±0.2) ps?1。一种简化方法仅需利用量子产率数据即可估算阈值附近CM速率常数的数量级。该方案普遍适用于分析各类材料的CM效率。
研究不足
该方法仅适用于载流子过剩能量不超过带隙两倍的情况,因此仅限于单次碰撞电离(CM)事件。对于更高能量下的多次碰撞电离事件,该方法未予考虑,可能导致结果不准确。电子结构近似处理及关于电子-空穴间能量分配的假设可能不适用于所有材料。与完整模型相比,这种简化方法会低估碰撞电离速率常数。
1:实验设计与方法选择:
该方法通过推导模型,从弛豫时间和量子产额的实验测量中提取能量依赖的载流子-声子耦合速率常数。采用等间距能级的电子结构近似,并假设冷却过程由声子发射主导。利用速率常数的幂律依赖关系对实验数据进行模型拟合。
2:样本选择与数据来源:
弛豫时间和量子产额的实验数据取自先前关于带隙为0.95 eV的3.9 nm PbSe量子点的研究。
3:95 eV的9 nm PbSe量子点的研究。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:论文中未作说明。
4:实验流程与操作步骤:
该方法包括将光激发能量重新标定为电子过剩能量,将方程拟合至实验数据,并进行全局拟合以确定速率常数。当弛豫时间数据不可用时,简化方法采用估算的能量损失率。
5:数据分析方法:
使用定制代码(见支持信息)对方程进行拟合,该方程源自模型,包含幂律依赖关系的参数α和β。统计技术包括全局拟合以降低不确定性。
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