研究目的
提出并演示一种基于偏振调制器的光学矢量网络分析仪，该分析仪具有扩展的测量带宽，能够测量带通响应器件并避免偏置漂移问题。
研究成果
所提出的基于DSB的光学矢量网络分析仪采用偏振调制器，成功测量了具有带通响应的器件，并将测量带宽较传统单边带方法提升了一倍。该方法避免了偏置漂移问题，且无需波形整形器等复杂组件。实验结果验证了该方法的可行性和准确性，在幅度响应方面与ASE和OSA测量结果高度吻合，而相位响应则是其独有的测量优势。
研究不足
测量范围受限于光电探测器的带宽（例如实验中的60 GHz）。由于数据分析过程中减法运算的信噪比较低，负频率处的噪声性能较差，这可以通过使用更高响应度的光电探测器或更强大的激光源来改善。
1：实验设计与方法选择：
实验采用偏振调制器（PolM）、偏振控制器（PC）和偏振片实现具有双边带（DSB）调制的相位-强度混合调制。通过调节PC控制相位与强度调制的比例，从而实现不同调制格式。通过处理两种不同调制格式下的测量结果，获取被测器件（DUT）的频率响应。
2：样品选择与数据来源：
使用可调谐光学带通滤波器（BPF）作为DUT，以展示测量带通响应的能力。
3：实验设备与材料清单：
可调谐激光源（TLS，Optilab TWL-C-M）、偏振调制器（PolM）、偏振控制器（PC）、偏振片、光电探测器（PD，带宽约30 GHz）、电矢量网络分析仪（EVNA，HP8702 ET）以及用于自动化的LabVIEW程序。
4：实验步骤与操作流程：
来自TLS的连续波光载波由EVNA提供的微波信号驱动的PolM进行调制。PC和偏振片调整调制格式。光信号通过DUT，由PD检测，光电流由EVNA测量。在两种不同的PC设置下（例如α1=0和α2=π/4）进行两次测量。同时进行无DUT的校准测量。
5：数据分析方法：
基于推导公式，使用LabVIEW程序处理数据，提取DUT的幅度和相位响应，通过校准消除系统响应。
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Tunable Laser Source
TWL-C-M
Optilab
Emits a continuous wave optical carrier for modulation and measurement.
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Generates microwave signals to drive the polarization modulator and detects photocurrent from the photodetector.
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