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金属纳米颗粒中声-等离子体耦合的数值模拟
摘要： 我们描述了一种计算方法来研究金属纳米颗粒中的声-等离子体耦合。我们使用由巴黎第六大学（皮埃尔与玛丽·居里大学）雅克-路易·利昂实验室开发的高级多物理场有限元软件FreeFEM。我们的数值方法依次确定纳米颗粒的声学模式和电磁特性的调制。通过更新位于纳米颗粒与其宿主介质边界处的节点坐标，并采用基于径向基函数插值的网格变形算法，实现了声学模拟与电磁模拟之间变形几何体的传递。因此，我们从理论上研究了受限振动与表面等离激元之间的不同耦合机制：形状效应、由纳米颗粒体积变化引起的电子密度效应，以及通过形变势机制评估的带间跃迁效应。
关键词： 声-等离子体耦合、径向基函数插值、FreeFEM、有限元法、金属纳米粒子
更新于2025-09-23 15:21:01
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线-平面偏转测量法
摘要： 相位测量偏折术中的关键问题在于求解入射光，该入射光用于确定表面法线。为重建三维镜面信息，提出线-平面偏折术通过反射光与包含入射光的入射光平面来确定表面法线。为此，采用点光源替代传统偏折术的连续面光源，相应地通过点光源两个及以上投影光所确定的入射光平面交线来计算入射光。最终通过径向基函数插值法，从由法线信息转换得到的梯度中重建精确镜面。为验证该方法，开发了由两个投影仪和一个相机组成的线-平面偏折术系统。该系统可根据不同测量需求应用于两种模式："线-平面模型"与"线-平面组模型"。其中"线-平面模型"测量误差小于0.25毫米，适用于低精度非连续物体；而"线-平面组模型"可测量高精度且区域连通性良好的物体，测量误差约1微米。
关键词： 点光源，径向基函数插值，线-平面偏转测量法，入射光平面，入射光
更新于2025-09-09 09:28:46