AIP会议录 [美国物理联合会出版社第15届聚光光伏系统国际会议（CPV-15） - 摩洛哥非斯（2019年3月25-27日）] 第15届聚光光伏系统国际会议（CPV-15） - 在恒定注入条件下测定Cz-Si和FZ-Si中与BO-LID和LeTID相关的激活能

摘要： 文献中关于BO-LID再生效应的活化能数据差异显著。除其他因素外，推测存在两个可能原因导致公开数据离散：一方面，若忽略反应过程的注入依赖性可能导致结果偏差；另一方面，LeTID的并行发生可能产生影响。本研究表明，在退化与再生处理过程中保持恒定注入量可消除首因影响，但通过提取缺陷密度及注入依赖性寿命数据证实，LeTID确实存在于Cz-Si中并影响其退化再生过程。对于仅受LeTID影响的FZ-Si，测得其退化与再生活化能分别为Ea,deg = 0.78±0.09 eV和Ea,reg = 0.62±0.09 eV（与烧结温度无关）。Cz-Si的退化活化能则轻微依赖烧结温度，这可能是BO-LID与LeTID叠加效应所致。FZ-Si与Cz-Si的再生活化能在测量误差范围内保持一致。研究同时表明，BO-LID与LeTID的叠加效应并非导致文献中活化能范围宽泛的主因。