研究目的
展示一种中心波长约670纳米的窄条形单纵模增益耦合分布反馈半导体激光器,该器件采用仅通过i线光刻技术制造的、具有岛状结构的新型微尺度无再生长增益耦合光栅(无需纳米级光栅)制备而成。
研究成果
该研究成功展示了一种中心波长约670纳米的窄条形单纵模增益耦合分布反?。―FB)半导体激光器。该激光器性能优异,最大输出功率达48.1毫瓦,斜率效率为0.79瓦/安培。该器件在锂原子检测及其他需要稳定单纵模激光的应用领域展现出潜力。
研究不足
该研究未探讨所制备激光器在连续工作状态下的长期可靠性。尽管制备工艺较先前方法更为简化,但仍需对光刻和蚀刻参数进行精确控制。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用i线光刻和常规ICP刻蚀技术制备增益耦合分布反?。―FB)半导体激光器。设计方案通过周期性阳极注入实现增益耦合机制。
2:样品选择与数据来源:
样品制备于发射波长670nm的AlGaInP/GaInP量子阱材料上。
3:实验设备与材料清单:
包含i线光刻设备、ICP刻蚀机、用于外延生长的MOCVD设备,以及用于测量的横河AQ6370C光谱分析仪。
4:实验流程与操作步骤:
工艺流程包括沉积岛状光刻胶层、刻蚀形成周期性岛状沟槽、沉积二氧化硅绝缘层以及制备周期性金属p接触电极。
5:数据分析方法:
基于输出功率、斜率效率和边模抑制比对激光器性能进行分析。
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