研究目的
研究温度和液相碘化对旋涂法制备的CuI薄膜电学性能的影响,以探讨其在CuI/n-Si太阳能电池中的潜在应用。
研究成果
液相碘掺杂提高了薄膜的晶体质量和尺寸,改善了表面形貌,并显著增强了电导率、载流子浓度和迁移率。CuI薄膜的光学透过率和带隙也随碘掺杂而增加,表明薄膜具有高度简并特性。这些发现表明,采用直接液相碘化法旋涂制备的CuI薄膜是CuI/n-Si太阳能电池的潜在候选材料。
研究不足
该研究聚焦于温度和液相碘化对碘化亚铜(CuI)薄膜电学性能的影响。但未探究碘化亚铜/ n型硅(CuI/n - Si)太阳能电池在实际工作条件下的长期稳定性和性能表现。
1:实验设计与方法选择
本研究采用旋涂法沉积碘化亚铜(CuI)薄膜,并通过直接液相碘化处理薄膜。研究了温度和碘掺杂对电学性能的影响。
2:样品选择与数据来源
碘化亚铜、乙腈和碘购自Sigma-Aldrich。将碘化亚铜以30 mg/mL浓度溶解于乙腈中,使用磁力搅拌器搅拌。溶液经0.45微米孔径尼龙滤膜过滤。通过直接向溶解有碘化亚铜的溶液中添加0.1%和0.5%重量比的碘进行液相碘掺杂。
3:实验设备与材料清单
布鲁克Dektak XTL测厚仪用于厚度测量,日本理学X'Pert-Pro X射线衍射仪进行XRD分析,卡尔蔡司EVO-18型研究级扫描电镜进行SEM观察,范德堡法用于电导率和霍尔效应研究。
4:实验流程与操作步骤
将碘化亚铜溶液以1000、2000和3000转/分钟转速旋涂于玻璃基底30秒(含5秒加速斜坡)。沉积的碘化亚铜薄膜在100°C退火10分钟以去除残余溶剂。通过重复旋涂步骤3次制备更厚的薄膜。
5:数据分析方法
采用德拜-谢乐公式计算碘化亚铜薄膜的晶粒尺寸。通过范德堡法进行电导率和霍尔效应研究。测量光学透过率和带隙以观察碘掺杂对碘化亚铜薄膜光学性能的影响。
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Bruker Dektak XTL thickness profiler
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Measuring the thickness of the CuI thin film
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