研究目的
利用单个传感器测量不同平面样品的单轴各向异性介电常数。
研究成果
一种测量单轴介电常数各向异性的新方法已得到验证。该方法基于微带技术传感器，由具有奇偶传播模式的耦合谐振器构成。每种模式具有不同的电场分布，适用于测定置于传感器上的样品平行与垂直方向的介电常数。利用该传感器，无需在待测样品表面印刷谐振器即可提取其各向异性介电常数。由于单个传感器可完成多个样品的特性表征，该方法具有快速且低成本的优势。
研究不足
该方法适用于厚度大于10密耳（0.254毫米）的样品表征，因为较薄的样品会处于强电场区域，由于对样品表面缺陷的敏感性增加以及样品放置误差，导致测量不确定性增大。
1：实验设计与方法选择：
该传感器基于微带技术中的一对直线耦合谐振器，可被奇偶传播模式激励。
2：样本选择与数据来源：
各向异性电介质样本（FR4、Rogers 4350B和Arlon Diclad 880）以及各向同性材料PTFE。
3：Rogers 4350B和Arlon Diclad 880）以及各向同性材料PTFE。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：罗杰斯公司的RT/duroid 5880基板，介电常数εr为2.2±0.02，损耗角正切为0.0009，铜箔厚度t为18微米，介质厚度h为0.79毫米。
4：2±02，损耗角正切为0009，铜箔厚度t为18微米，介质厚度h为79毫米。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：传感器在设计频率下于各向同性基板上设计。由于每种模式特有的电场配置，可将这些模式与置于传感器顶部的电介质材料的两个不同方向（平行和垂直）的介电常数相关联。
5：数据分析方法：
开路微带谐振器的谐振频率可通过公式(1)计算，其中εr为基板介电常数，c为真空中的光速，l为谐振器物理长度，n为谐振阶数。
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