研究目的
研究氮化物基近紫外发光二极管在盐雾环境偏置应力下的退化机制。
研究成果
研究发现，ITO的加速腐蚀是由高表面温度区域周围ITO表面积累的NaCl引起的。被腐蚀的ITO促使电极中的Au原子向有源区扩散，从而导致严重的漏电流，进而造成LED器件失效?？焖偕秆〖际跷贤釲ED的寿命测试提供了一种有效方法。
研究不足
该研究聚焦于氮化物基近紫外LED，可能并不直接适用于其他类型的LED。盐水蒸气环境中的加速寿命测试或许无法完全复现实际工况条件。
1：实验设计与方法选择：
本研究通过在盐水蒸气环境中对氮化物基近紫外LED施加正向和反向偏置应力，分析其退化机制。
2：样品选择与数据来源：
在c面蓝宝石衬底上制备了尺寸为106 μm2的氮化物基近紫外LED。
3：实验设备与材料清单：
使用了配备聚焦离子束的扫描电子显微镜、化学分析电子能谱仪、激光扫描共聚焦显微镜、光学显微镜及红外热像系统。
4：实验步骤与操作流程：
在盐水蒸气环境中对LED施加正向和反向偏置应力，随后分析其热学、光学及成分特性。
5：数据分析方法：
采用能量色散X射线分析和化学分析电子能谱仪对样品成分进行表征。
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获取完整内容-
scanning electron microscopy
Used for observing the morphological changes in the cross-section of devices.
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focused ion beam
Used in conjunction with SEM for sample preparation and analysis.
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electron spectroscopy for chemical analysis
Used for characterizing the compositions of the sample surface.
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laser scanning confocal microscopy
Used to obtain two-dimensional fluorescence images of the sample surface.
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optical microscopy
Used for observing the top-view of the LED chip.
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infrared thermal camera system
Used for measuring the thermal properties of the LEDs under stress.
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