研究目的
研究红外(IR)辐射和电阻预加热硅片对非晶硅-晶体硅(a-Si:H/c-Si)异质结太阳能电池电学性能的影响。
研究成果
红外辐射加热有助于避免J-V特性曲线中的S形现象,但会增加体缺陷态,从而限制整体器件性能。电阻加热能提供更好的非晶硅/晶体硅界面钝化效果,但因带阶问题会导致S形特性曲线。该研究表明预热方法对确定SHJ太阳能电池电学特性的重要性。
研究不足
本研究仅限于分析采用特定预热方法(红外辐射和电阻加热)制备的SHJ电池,未探索其他潜在的预热技术或材料。未研究其他制备参数变化对电池性能的影响。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过在沉积非晶硅氢(a-Si:H)层前,采用不同硅片预热方式(红外辐射加热与电阻加热)制备异质结太阳能电池(SHJ)。
2:样品选择与数据来源:
使用具有特定电阻率、体少子寿命及厚度的n型单晶硅片。
3:实验设备与材料清单:
射频等离子体增强化学气相沉积(PECVD)系统、直流磁控溅射系统、Oriel Sol3A AAA级太阳光模拟器、Keithley 2400源测量系统、Sinton WCT-120TS测量系统、SpeQuest量子效率测试系统、CCS-400低温恒温器。
4:实验流程与操作步骤:
SHJ电池制备、AM1.5G光照条件下的器件表征、Suns-Voc分析、量子效率测试、温度相关的暗态J-V特性测量。
5:5G光照条件下的器件表征、Suns-Voc分析、量子效率测试、温度相关的暗态J-V特性测量。 数据分析方法:
5. 数据分析方法:通过分析J-V特性曲线、Suns-Voc图表、量子效率光谱及温度相关的暗态J-V特性,探究载流子传输机制。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Keithley 2400 source measurement system
2400
Keithley
Measuring current density–voltage characteristics
-
Oriel Sol3A Class AAA Solar Simulator
Sol3A
Oriel
Simulating AM1.5G illumination for solar cell testing
-
Sinton WCT-120TS measurement system
WCT-120TS
Sinton
Recording Suns versus open-circuit voltage graphs
-
SpeQuest quantum efficiency system
SpeQuest
ReRa solutions
Measuring external quantum efficiency
-
CCS-400 cryostat
CCS-400
Janis Company
Conducting low-temperature dark J–V measurements
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部