研究目的
开发一种用于电力电子应用的常关型GaN垂直沟槽MOSFET。
研究成果
开发了一种常关型GaN垂直沟槽MOSFET,其阈值电压为4.8V,在0V栅极偏压下阻断电压达600V,10V栅极偏压时导通电阻为1.7Ω。该器件特性通过AlN/SiN栅介质工艺和源极再生长工艺实现,以确保良好的体区接触。
研究不足
大单元间距尺寸和/或沟道电阻是总导通电阻的限制因素。通过减小单元间距尺寸、改善介质/半导体界面质量以及优化漂移层生长条件以提高电子迁移率,可以实现总导通电阻的降低。
研究目的
开发一种用于电力电子应用的常关型GaN垂直沟槽MOSFET。
研究成果
开发了一种常关型GaN垂直沟槽MOSFET,其阈值电压为4.8V,在0V栅极偏压下阻断电压达600V,10V栅极偏压时导通电阻为1.7Ω。该器件特性通过AlN/SiN栅介质工艺和源极再生长工艺实现,以确保良好的体区接触。
研究不足
大单元间距尺寸和/或沟道电阻是总导通电阻的限制因素。通过减小单元间距尺寸、改善介质/半导体界面质量以及优化漂移层生长条件以提高电子迁移率,可以实现总导通电阻的降低。
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