研究目的
通过引入由ZnO和SnO2双层堆叠组成的双金属氧化物电子传输层（ETL）来解决ZnO电子传输层导致的量子点发光二极管（QD-LEDs）中电荷不平衡问题。
研究成果
采用由ZnO和SnO?纳米颗粒组成的双金属氧化物电子传输层（ETLs），可显著改善量子点发光二极管（QD-LEDs）中的电荷平衡，从而提高发光效率。该方法为高性能量子点光电器件提供了一个极具前景的平台。
研究不足
由于薄发射层（EML）的特性，效率滚降仍是一个问题，这表明需要进一步优化，例如通过将量子点（QDs）与聚合物基质混合来增加量子点的壳层厚度或发射层的厚度。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用双ETL结构（含ZnO和SnO?纳米颗粒）以改善量子点发光二极管(QD-LED)的电荷平衡。
2：样品选择与数据来源：
SnO?纳米颗粒购自MKnano公司，ZnO纳米颗粒和CdSe/ZnS量子点按先前文献方法制备。
3：实验设备与材料清单：
包括用于表面形貌分析的原子力显微镜(AFM)、用于功函数测量的开尔文探针力显微镜(KPFM)、用于厚度测量的椭偏仪，以及用于QD-LED性能表征的Keithley 236源测量单元。
4：实验流程与操作步骤：
制备结构为玻璃/ITO/ETLs/量子点/TCTA/MoO?/Al的QD-LED，采用旋涂法和热蒸镀法进行器件加工。
5：数据分析方法：
通过电流密度-亮度-电压关系及效率参数分析QD-LED性能。
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Keithley 236 source measurement unit
236
Keithley
Used for characterizing QD-LED performance.
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SnO2 NPs
MKnano
Used as the second electron transport layer in QD-LEDs to improve charge balance.
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ZnO NPs
Used as the primary electron transport layer in QD-LEDs.
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CdSe/ZnS QDs
Used for red emission in QD-LEDs.
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Atomic Force Microscope
XE-100
Park Systems
Used for surface topography and Kelvin probe force microscopy (KPFM) measurements.
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Ellipsometry
MG-1000
Nanoview
Used for measuring the thickness of thin films.
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CS-1000A spectroradiometer
CS-1000A
Konica-Minolta
Used for characterizing QD-LED performance.
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