研究目的
研究不同直径Lu2O3:Eu3+纳米线阵列的制备与性能，探索其在X射线成像高空间分辨率闪烁屏中的潜在应用。
研究成果
成功制备并表征了不同直径的Lu?O?:Eu3?纳米线阵列。该阵列具有良好的发光性能，其强度随纳米线直径增大而增强，这是由于结晶度和填充率提高所致。该纳米线阵列在X射线成像的高空间分辨率闪烁屏中具有应用潜力。
研究不足
该研究仅限于制备和表征直径达400纳米的Lu2O3:Eu3+纳米线阵列，未测试其在实际X射线成像应用中的性能。
1：实验设计与方法选择：
采用溶胶-凝胶AAO模板法制备Lu2O3:Eu3+纳米线阵列。通过使用不同孔径的AAO模板来定义纳米线的直径。
2：样品选择与数据来源：
使用孔径为200 nm、300 nm和400 nm的AAO模板。以硝酸镥和硝酸铕作为起始原料。
3：实验设备与材料清单：
AAO模板、Lu(NO3)3·6H2O、Eu(NO3)3·6H2O、蒸馏水、马弗炉、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射仪（XRD）、光致发光光谱仪（PL）、阴极荧光光谱仪（XEOL）。
4：2O、Eu(NO3)3·6H2O、蒸馏水、马弗炉、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射仪（XRD）、光致发光光谱仪（PL）、阴极荧光光谱仪（XEOL）。 实验步骤与操作流程：
4. 实验步骤与操作流程：制备前驱体溶液，将AAO模板浸入溶液中，随后进行超声处理、加热和煅烧。使用SEM、TEM、XRD、PL和XEOL对样品进行表征。
5：数据分析方法：
采用谢乐公式计算晶粒尺寸。分析发光强度和衰减时间以了解纳米线阵列的性能。
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获取完整内容-
SEM
JEOL JSM-6710F
JEOL
Used to characterize the morphologies of the Lu2O3:Eu3+ nanowire arrays.
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TEM
JEOL JEM 2011
JEOL
Used to investigate the Lu2O3:Eu3+ nanowires.
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PL spectrophotometer
Hitachi F7000
Hitachi
Used to measure the photoluminescence of the Lu2O3:Eu3+ nanowire arrays.
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AAO templates
Shanghai Shangmu Tech. Co. Ltd.
Used as templates to define the diameters of Lu2O3:Eu3+ nanowires.
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Lu(NO3)3·6H2O
Shanghai Diyang Industrial Co. Ltd.
Used as a starting material for the synthesis of Lu2O3:Eu3+ nanowires.
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Eu(NO3)3·6H2O
Shanghai Diyang Industrial Co. Ltd.
Used as a starting material for the synthesis of Lu2O3:Eu3+ nanowires.
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XRD
Haoyuan DX2700
Haoyuan
Used to record the X-ray diffraction patterns of the samples.
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XEOL spectrophotometer
Home-made
Used to perform X-ray excited optical luminescence measurements.
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