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2016年欧洲显微镜学大会:会议录 || 利用pnCCD (S)TEM相机进行电场成像

DOI:10.1002/9783527808465.EMC2016.6328 出版年份:2016 更新时间:2025-09-10 09:29:36
摘要: 使用pnCCD(扫描)电子显微镜相机对电场进行成像,能够快速、直接且精确地测量各种材料中的电场。能够快速、直接且精确测量电场分布的技术,对现代材料研究具有重要价值。我们展示了利用pnCCD(扫描)电子显微镜相机实现的纳米级尺度电场分布的快速、直接与精确测量。该技术可检测到因电场导致的明场图像微小位移,精度达亚纳米级(<1纳米)。其高达264×264的像素数量支持大范围区域的同步电场测量。1.2千赫兹的快速读出速率可实现动态过程观测。这种直接测量电场的方法避免了复杂模拟或间接手段的需求,因此pnCCD(扫描)电子显微镜相机成为研究材料中电场的强有力工具。
作者: Robert Litsch,Martin Dutka,Sebastian Ihle,Martin Simon,Heiko Soltau,Rudolf Str?hmer,Lothar Strüder
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利用pnCCD(扫描电子显微镜)相机研究多种材料中电场分布的快速、直接和精确测量方法。

pnCCD(扫描电子显微镜)相机为纳米尺度下材料中电场分布的测量提供了一种快速、直接且精确的方法。其大像素阵列和快速读出能力使其适用于观测动态过程,并可在无需复杂模拟或间接方法的情况下测量大面积的电场。

该技术的精度限制在小于1纳米,动态观测受限于相机1.2千赫兹的读出速度。该方法需要配备pnCCD(扫描电子显微镜)相机,但并非所有研究环境都容易获取这种设备。

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