研究目的
采用边缘限定薄膜供料生长(EFG)法研究SrI2和SrI2:Eu晶体的生长及光学特性,重点通过温度场设计优化晶体质量。
研究成果
该研究通过设计合适的温度梯度,成功采用导模法(EFG)生长出高质量的SrI2和SrI2:Eu5%晶体。对晶体的光学特性进行了表征,结果显示其在435纳米处呈现单一发光峰,衰减时间为0.594微秒。该温度场设计也为采用导模法生长其他晶体提供了参考。
研究不足
该研究的局限性在于SrI2:Eu对湿气和氧气的敏感性,这增加了加工难度并限制了晶体的使用。此外,由于分凝作用,生长晶体中实际的Eu2+浓度低于预期的5%。
1:实验设计与方法选择:
采用EFG法生长SrI2及SrI2:Eu5%晶体,重点通过温度场设计优化晶体品质。
2:样品与数据来源:
起始原料为SrI2(99.99%)和EuI2(99.99%)。
3:99%)和EuI2(99%)。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:系统包含安瓿瓶、炉体、手套箱及真空泵,采用铂丝作为籽晶。
4:实验流程与操作步骤:
将原料混合于石英安瓿中抽真空密封后置入炉体,在氩气保护氛围下升温至约540°C,通过旋转提拉铂丝获取籽晶。
5:数据分析方法:
分别使用X射线衍射仪和分光光度计获取XRD图谱与荧光光谱。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容