研究目的
使用通用三维四探针工具研究纤维素-PEDOT:PSS复合材料的各向异性导电性。
研究成果
结果表明,与先前关于PEDOT:PSS薄膜的研究相比,该复合材料表现出相对较小的各向异性。在CNF-PEDOT:PSS样品中,面内与面外电导率相差约两个数量级;而在纸浆-PEDOT:PSS样品中,这一差异不足一个数量级。这些现象归因于PEDOT:PSS在纤维/原纤上自组织排列,而非受限于薄膜浇铸所用的基底模板效应。
研究不足
所述方法适用于无限厚度的样品。为考虑有限厚度样品的情况,在推导电阻率时引入了修正因子。
1:实验设计与方法选择:
搭建了带有两块平行安装弹簧探针的装置,用于测量横向和纵向电阻。该方法采用Montgomery开发的转换法推导面内与面外电导率。
2:样品选择与数据来源:
制备了以CNF或纸浆为基质的厚型独立纤维素-PEDOT:PSS薄膜,每种基质材料均制备了不同厚度规格的薄膜。
3:实验设备与材料清单:
自制弹簧探针装置、Keithley 2602B源表、Keithley 2182A纳伏表、用于微观结构表征的SEM(蔡司Sigma 500 Gemini)。
4:实验流程与操作步骤:
使用自制装置分别测量薄膜横向(面内)和纵向(面外)方向的电阻,基于Montgomery方法通过MATLAB?程序分析测量结果。
5:数据分析方法:
通过按转换要求改变探针间距,推导出面内与面外方向的电阻率。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Keithley 2602B sourcemeter
2602B
Keithley
Supplying constant current level of 10 mA during the measurement.
-
Keithley 2182A nanovoltmeter
2182A
Keithley
Measuring the voltage drop during the measurement.
-
Zeiss Sigma 500 Gemini
Sigma 500 Gemini
Zeiss
Scanning electron microscopy (SEM) for microstructure characterization.
-
Pogo Receptacle P2662A-3ED
P2662A-3ED
Pogo
Spring loaded probes with hemispherical tip for minimizing damage to the sample surface.
-
登录查看剩余2件设备及参数对照表
查看全部