研究目的
研究阿伦尼乌斯加速寿命测试法在氮化镓（GaN）高电子迁移率晶体管（HEMT）寿命评估中的适用性。
研究成果
研究得出结论：单一直流应力、温度加速寿命测试未能反映氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）的关键性能退化问题。需进一步研究射频工作状态下的应力影响。
研究不足
由于直接测量不可行，该研究依靠模拟数据和间接测量来估算温度。热阻估算的准确性存在显著误差。
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考虑温度加速之外的因素对GaN HEMT寿命测试的益处
DOI：10.3390/electronics5030032
期刊：Electronics
出版年份：2016
更新时间：2025-09-23 15:19:57
摘要：
本研究的目的是探究阿伦尼乌斯加速寿命测试法在氮化镓（GaN）高电子迁移率晶体管（HEMT）寿命评估中的有效性——该标准假设中唯一关键应力因素是温度，该温度源自工作功率、器件沟道-壳体热阻及底板温度。我们发现仅凭功率或温度无法解释观测到的性能退化差异，行业采用的加速寿命测试若能考虑温度之外的加速因子影响将更具效益。具体而言，我们发现达到目标功耗所用的电压具有重要性，同时仅靠温度加速或单独施加电压（未产生显著功耗）都不足以评估实际工况下的器件寿命。
作者：
Ronald A. Coutu Jr.，Robert A. Lake，Bradley D. Christiansen，Eric R. Heller，Christopher A. Bozada，Brian S. Poling，Glen D. Via，James P. Theimer，Stephen E. Tetlak，Ramakrishna Vetury，Jeffrey B. Shealy
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