研究目的
制备并研究掺铜SnO2纳米粒子在电子剂量学中的应用。
研究成果
通过水热法合成的掺铜SnO2荧光粉在电子束应用中展现出良好的剂量学特性，其剂量响应线性范围可达15.50 kGy，具有低衰减率和优异的重复性，适用于电子剂量测定。
研究不足
该研究仅限于掺铜SnO2纳米颗粒和6 MeV电子辐照，未探索其他掺杂剂或辐射类型。2个月内5.1%的信号衰减可能影响长期稳定性，且高剂量下会出现饱和现象。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用水热合成法制备掺铜SnO2纳米颗粒，通过XRD、FESEM和EDS进行表征。利用热释光（TL）剂量学研究电子束辐照效应。
2：样本选择与数据来源：
样品以氯化锡、氢氧化钠和氯化铜为前驱体合成。制备两组样本：未退火组与700°C退火组。
3：实验设备与材料清单：
设备包括XRD光谱仪（布鲁克-AXS D8 ADVANCE）、FESEM与EDS（FEI Nova Nano SEM 450 & 布鲁克X-Flash 6I30）、TLD读出器（Nucleonix）及6 MeV回旋加速器。材料包含SnCl4·5H2O、NaOH、CuCl2、乙醇及双蒸水。
4：0）、TLD读出器（Nucleonix）及6 MeV回旋加速器。材料包含SnCl4·5H2O、NaOH、CuCl乙醇及双蒸水。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：合成过程包括混合前驱体、180°C水热反应24小时、洗涤干燥及退火处理。表征环节包含XRD、FESEM、EDS检测及不同注量电子辐照后的TL测量。
5：数据分析方法：
采用谢乐公式计算晶粒尺寸。TL数据通过Kitis方程和品质因数（FOM）分析剂量响应、衰退特性、重复性及热释光曲线解卷积。
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获取完整内容-
X-Ray Diffraction spectrometer
D8 ADVANCE
Bruker-AXS
Structural analysis of nanoparticles
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Field Emission Scanning Electron Microscope
Nova Nano SEM 450
FEI
Morphological analysis
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Energy Dispersive X-ray Spectrometer
X-Flash 6I30
Bruker
Elemental analysis
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TLD reader
Nucleonix
Recording thermoluminescence dosimetric properties
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Race Track Microtron Accelerator
Source of 6 MeV electron beam for irradiation
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