研究目的
研究Bi3+掺杂Ba2Ga2GeO7荧光粉的结构微调制及缺陷导向光学特性,以应用于白光发光二极管(WLEDs)。
研究成果
Ba2Ga2GeO7:Bi3+荧光粉基于激发波长可呈现从青色到红色的可调谐发射,在白光LED应用中具有高显色指数。其发光特性依赖于Ga/Ge空位,为荧光粉的缺陷工程提供了研究思路,是紫外转换白光LED极具潜力的候选材料。
研究不足
该研究仅限于Ba2Ga2GeO7基质中Bi3+的掺杂,未探索其他掺杂剂或基质。合成条件特定于空气气氛和1150°C,可能并非适用于所有应用场景。热猝灭活化能相对较低,表明其在高温下可能存在稳定性问题。
1:实验设计与方法选择:
采用高温固相反应法合成Ba2-xGa2GeO7:xBi3+荧光粉,运用Rietveld精修和多种光谱技术分析晶体结构与发光性能。
2:样品选择与数据来源:
以化学计量比的BaCO3、Ga2O3、GeO2和Bi2O3为原料,制备不同Bi3+浓度及空位条件的样品。
3:Ga2OGeO2和Bi2O3为原料,制备不同Bi3+浓度及空位条件的样品。 实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:X射线衍射仪(Bruker-D8 Focus)、荧光光谱仪(FLS 920,爱丁堡仪器)、扫描电镜(S-4800,日立)、X射线光电子能谱(Thermo ESCALAB 250)、电感耦合等离子体发射光谱(Thermo Scientific X Series 2)等。
4:0)、电感耦合等离子体发射光谱(Thermo Scientific X Series 2)等。 实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:将原料研磨后于1150°C烧结10小时,通过XRD、PL、PLE、衰减曲线及热稳定性测试进行表征,制备并测试WLED器件。
5:数据分析方法:
采用GSAS软件进行Rietveld精修,Kubelka-Munk函数计算带隙,指数衰减拟合分析寿命。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
X-ray diffractometer
D8 Focus
Bruker
Phase purity and crystal structure identification
暂无现货
预约到货通知
-
Spectrofluorometer
FLS 920
Edinburgh Instruments
Recording photoluminescence excitation and emission spectra
-
Scanning electron microscope
S-4800
Hitachi
Morphology and element mapping observation
暂无现货
预约到货通知
-
X-ray photoelectron spectroscopy system
ESCALAB 250
Thermo
Valence state analysis of bismuth ion
暂无现货
预约到货通知
-
Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer
X Series 2
Thermo Scientific
Elementary composition recording
暂无现货
预约到货通知
-
Digital Oscilloscope
Wave Runner 6100
Lecroy
Recording fluorescence decay curves
暂无现货
预约到货通知
-
UV-vis-NIR spectrophotometer
3600
Shimadzu
Diffuse reflectance spectra performance
暂无现货
预约到货通知
-
Photomultiplier tube
928 PMT
Used in decay curve measurement
暂无现货
预约到货通知
-
Tunable laser
Excitation source for decay curves
暂无现货
预约到货通知
-
Light Meter
MR-16 v3
Rainbow Light Technology CO. Ltd.
Collecting PL spectra and parameters of fabricated WLEDs
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余8件设备及参数对照表
查看全部