研究目的
研究陶瓷含量对(KNNL-Z)/PVDF 0-3复合材料晶体结构、形貌、密度以及介电和压电性能的影响，并改善这些性能以实现其在电子器件中的潜在应用。
研究成果
KNNL-Z/PVDF复合材料随着陶瓷含量增加，其介电和压电性能得到提升，在80 wt.% KNNL-Z时达到39 pC/N的压电系数和272的介电常数，并在30天内保持良好稳定性。陶瓷促进了PVDF的相变，从而提升性能，这一现象可用渗流理论解释。
研究不足
该研究仅限于特定成分和加工条件；未评估超过30天的可扩展性和长期耐久性。热压工艺可能引入影响性能的孔隙。
1：实验设计与方法选择：
研究通过传统固相反应法合成KNNL-Z陶瓷，并采用热压工艺与PVDF制备复合材料。检测方法包括XRD、SEM、FTIR、密度测量及电学性能表征。
2：样本选择与数据来源：
样品制备采用PVDF基体中不同KNNL-Z含量（40-80 wt.%）。数据源自实验室实测。
3：实验设备与材料清单：
高纯氧化物及碳酸盐（K2CO3、Na2CO3、Nb2O5、Li2CO3、ZrO2）、PVDF聚合物、乙醇、PVA粘结剂、银浆、硅油。设备：磁力搅拌器、球磨机、烧结炉、热压机、XRD衍射仪（布鲁克AXS D8-Focus）、扫描电镜（SU-8010）、红外光谱仪（NEXUS 670）、电子重力仪（DE-200M）、LCR测试仪（E4990A）、准静态d33测试仪（PM-200）。
4：Na2CONb2OLi2COZrO2）、PVDF聚合物、乙醇、PVA粘结剂、银浆、硅油。设备：
4. 实验流程与操作步骤：陶瓷粉体制备：混合、球磨、煅烧、压片、烧结。复合材料制备：KNNL-Z与PVDF混合、搅拌、超声分散、热压成型。表征分析：XRD物相分析、SEM微观形貌、FTIR物相含量、密度测量、极化老化后电学性能测试。
5：0）、红外光谱仪（NEXUS 670）、电子重力仪（DE-200M）、LCR测试仪（E4990A）、准静态d33测试仪（PM-200）。 实验流程与操作步骤：
5. 数据分析方法：采用谢乐公式计算晶粒尺寸，相含量计算方程、混合定律计算密度，介电与压电性能采用标准公式分析。
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XRD diffractometer
D8-Focus
Bruker
Analyze crystal phases of samples
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SEM
SU-8010
Hitachi
Observe surface microstructures of samples
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FTIR spectrometer
NEXUS 670
Thermo Nicolet
Perform FTIR spectra analysis
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LCR meter
E4990A
Keysight Technologies
Determine conductivity and dielectric properties
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Electronic gravity meter
DE-200M
DahoMeter
Measure bulk density using Archimedes principle
-
Quasi-static d33-meter
PM-200
Piezotest
Measure piezoelectric coefficient
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