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Influence of active layer thickness on photovoltaic performance of PTB7:PC70BM bulk heterojunction solar cell

DOI:10.1016/j.spmi.2019.106278 期刊:Superlattices and Microstructures 出版年份:2019 更新时间:2025-09-16 10:30:52
摘要: In this paper, we studied the effect of active layer thickness on the photovoltaic performance of inverted bulk heterojunction (BHJ) organic solar cell (OSC). The capacitance-voltage (C–V), dark current-voltage (I–V) and impedance spectroscopy (IS) analysis were carried out to explain the active layer thickness dependence on the photovoltaic performance. The OSC with an active layer thickness of 150 nm achieved the best power conversion efficiency (PCE) of 5.87%, while the OSC of 200 nm active layer thickness yielded the worst PCE. Reduction in the fill factor (FF) was the main reason for the reduction in the PCE at large active layer thickness. The dark I–V analysis revealed large defect density for the OSC with active layer thickness of 200 nm, which raised the charge recombination and leakage current and consequently reduced the FF. IS analysis predicted that the charge transport became the serious limitations for the OSC with 200 nm thick active layer, which can be attributed to the weakening of electric field as well as creation of field-free regions. It mainly caused a drastic drop in the fill factor by reducing the charge collection efficiency, consequently deteriorated the photovoltaic performance.
作者: Nidhi Sharma,Saral K. Gupta,Chandra Mohan Singh Negi
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To study the effect of active layer thickness on the photovoltaic performance of inverted bulk heterojunction (BHJ) organic solar cell (OSC).

The study concludes that the active layer thickness significantly affects the photovoltaic performance of OSCs, with an optimal thickness of 150 nm yielding the highest PCE. Thicker layers lead to increased recombination and reduced charge collection efficiency, adversely affecting the device performance.

The study is limited to the PTB7:PC70BM BHJ system and does not explore other material combinations. The analysis is also constrained by the specific fabrication and characterization techniques used.

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