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FL780-10 滤光片

FL780-10

分类: 滤光片

厂家: 索雷博

产地: 美国

型号: FL780-10

更新时间: 2023-07-07T07:39:47.000Z

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1 Inch Laser Line Filter, CWL = 780 ± 2 nm, FWHM = 10 ± 2 nm

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概述

来自Thorlabs Inc的FL780-10是波长为700至790 nm、中心波长(CWL)为780 nm、带宽(FWHM)为10 nm、阻挡波长为200至1150 nm、滤波器直径为25.4 mm(1英寸)的光学滤波器。有关FL780-10的更多详细信息,请联系我们。

参数

  • 过滤器类型 / Filter Type : Laser Line Filter
  • 半高宽(FWHM) / Bandwidth (FWHM) : 10 nm
  • FWHM公差 / FWHM Tolerance : ± 2 nm
  • 阻挡波长 / Blocking Wavelength : 200 to 1150 nm
  • RoHS / RoHs : Yes
  • 过滤器形状 / Filter Shape : Round
  • 基底/材料 / Substrate/Material : Schott Borofloat, Soda Lime
  • 滤波器直径 / Filter Diameter : 25.4 mm (1 Inch)
  • 表面质量 / Surface Quality : 80-50 scratch-dig

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  • 材料科学与工程实验方案

    1. 实验设计与方法选择:本研究采用标准熔融法制备玻璃,通过差热分析(DTA)、紫外-可见-近红外光谱(UV-Vis-NIR)、红外与拉曼光谱、X射线衍射(XRD)及发光测量等热学、结构和光学分析手段研究其性能与晶化行为。 2. 样品选择与数据来源:制备了组成为(95-x)(0.50P?O?-0.40SrO-0.10Na?O) – 5Yb?O? – x(1.5Y?O?-2.5Al?O?)(x=0, 0.25, 0.5, 1 mol%)的玻璃,原料包括NaPO?、Yb?O?、Y?O?、Al?O?和Sr(PO?)?。 3. 实验设备与材料清单:设备包括扫描电子显微镜(卡尔·蔡司Crossbeam 540)、能谱探测器(牛津仪器X-MaxN 80)、差热分析仪(耐驰JUPITER F1)、紫外-可见-近红外分光光度计(岛津UV-360 Plus)、傅里叶变换红外光谱仪(珀金埃尔默Spectrum one)、拉曼显微镜(赛默飞世尔DXR 2xi)、XRD分析仪、光谱仪(Jobin Yvon iHR320)、探测器(滨松P4631-02、R928P)、激光二极管(BMU8-915-01-R)、示波器(泰克TDS350)及带滤光片的探测器(Thorlabs PDA10CS配FB980-10)。材料包括铂坩埚、用于密度测量的乙醇以及扫描电镜碳涂层。 4. 实验流程与操作步骤:批次样品在铂坩埚中于1300-1525°C熔融30分钟,淬火后于400°C退火6小时。密度采用阿基米德法测定。差热分析升温速率为10°C/分钟。吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱、XRD、发射光谱及寿命测量均在特定激发条件和环境下进行。通过Tg+20°C下热处理17小时及Tp-40°C下最多3小时的热处理诱导晶化。 5. 数据分析方法:吸收截面通过公式σabs(λ) = 2.303/NL log(I?/I)计算。辐射寿命通过τ_rad = 3λ? / (32πc n2 ∫ σabs(λ)dλ)计算。XRD图谱与ICDD标准卡片对比。发射光谱与寿命数据用于分析成分及热处理导致的差异。

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  • 机械电子工程实验方案

    1. 实验设计与方法选择:本研究采用波长450纳米的二极管激光器进行铜及铜合金的微焊接,重点研究热传导焊接模式。通过高速成像与积分球分别实现过程观测与吸收率测量。 2. 样品选择与数据来源:选用厚度150微米至1毫米的Cu-ETP和CuSn6试样,选材标准聚焦于电子元件相关材料。 3. 实验设备与材料清单:包含Nuburu AO-150二极管激光器、Newson z-Shifter位移台、振镜扫描系统、Scanlab f-theta透镜、Photron Fastcam SA5高速摄像机及用于吸收测量的积分球。 4. 实验流程与操作规范:包括激光与光学组件调试、搭接焊与对接焊实施、焊接过程吸收率测量及焊缝分析等步骤。 5. 数据分析方法:通过焊接过程中的二极管电压计算吸收率,结合高速视频观察熔池动态,并制备焊缝横截面进行评估。

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厂家介绍

Thorlabs致力于以快速有效的服务,为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室

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