在现代光电系统和电子电工设备中,光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络,还是调试复杂的激光加工设备,工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清,极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合,掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率,
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概述
参数
- 分束器类型 / Beamsplitter Type : 30 mm Cage, Mounted Beasplitter Cubes
- 分束器形状 / Beamsplitter Shape : Cube
- 基底/材料 / Substrate/Material : N-SF1
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 Scratch-Dig
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通过高精度相位分辨和频振动光谱检测界面弱信号
过去25年的大量研究表明,界面特异性全光学技术——振动和频生成(v-SFG)光谱法,往往能独特地表征界面物种的结构与动态。此类测量所需的关键信息是产生界面分子非线性响应的二阶复极化率。而检测仅对极化率产生微小贡献的分子物种的能力,同时受限于光谱相位与振幅测定精度的制约。本研究描述了一种新型光谱仪设计,在改变样品属性的多光谱采集扩展研究中,该设计提供了前所未有的相位与振幅精度。这项显著提升技术灵敏度的关键在于:全共线光束几何结构与宽带光谱采样的结合,以及同步测量复样品与参考光谱的能力。我们证明采用该技术可大幅降低参考相位与振幅的不确定性。此外,平衡探测法可使信噪比提升一个数量级。通过从z切石英以体相为主导的非线性光学响应中分离出微弱各向同性表面信号,我们验证了该光谱仪的性能。本光谱仪实现的精度使当前v-SFG光谱法无法完成的测量成为可能。
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等离子体暴露过程中类金属镜面光谱反射率的原位测量
光偏振 CXRS 表面退化 光学发射光谱 快速中性原子 光谱反射率
聚变等离子体中的可见光谱测量高度依赖于首镜的光学特性,这些首镜需承受大量辐射和粒子流冲击。这种相互作用会导致首镜光学性能改变,因此需要定期清洁。为此必须对首镜反射率进行原位监测。新开发的多普勒频移反射率测量(DSRM)诊断技术可在无校准光源条件下获取首镜光谱反射率,其原理是通过在镜面施加约负电位,在低密度Ar-H等离子体中激发快H/D原子发射。目前实验数据仅限于测量Hα谱线的快原子发射。本研究证实该新技术还能获取与ITER中氦II线(468nm)电荷交换复合光谱(CXRS)测量相关的Hβ线(铜)(486nm)首镜反射率。此外,DSRM诊断对钨镜反射光的偏振态仍保持敏感。我们首次展示了时变工况下的实验数据:通过原位监测铝镜反射率随温度变化的退化情况。镜面被动加热由等离子体自身实现,这使得在500K以上温度时无法区分高温与等离子体侵蚀对反射率的影响。在500K以下温度区间,实验数据与采用德鲁德理论计算的理论值高度吻合;而在500K以上温度,反射率退化由铝的侵蚀决定,这通过同步监测铝I谱线得到验证。
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物理学实验方案
1. 实验设计与方法选择:采用共线光束几何结构的异频全时域方法进行相位分辨的和频振动光谱(v-SFG)测量。该方法通过使红外与可见激光脉冲在界面处重叠,产生与本地振荡器干涉的和频信号,并扫描时间延迟以生成用于傅里叶变换的干涉图,从而获得复数光谱。 2. 样品选择与数据来源:样品包括用于稳定性测试的银镜、用于信噪比测试的金表面以及用于展示信号隔离的z切石英。数据通过干涉扫描获取。 3. 实验设备与材料清单:包含钛宝石再生放大器、光学参量放大器、差频发生装置、硒化锌分束器、线栅偏振器(Infraspecs)、锗窗片、氟化钙和BK7透镜、z切石英窗片、压电平移台(PI, Q-521-330)、振镜电机、偏振分束立方体(Thorlabs, CCM1-PBS252)、雪崩光电二极管(Thorlabs, APD410A2)、门积分器(SRS, Boxcar Averager)及各类光学元件与滤光片。 4. 实验流程与操作步骤:激光脉冲产生后导入干涉仪,经分束、合束并聚焦于样品。振荡镜交替切换样品与参考点位置,通过扫描时间延迟记录干涉图,最终采用平衡探测与傅里叶变换处理数据。 5. 数据分析方法:运用傅里叶变换提取复数光谱,采用平衡探测降低噪声,通过奇异值分解实现信号分解。量化相位与振幅误差并计算信噪比。
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机械工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:DSRM诊断利用镜面前方的多普勒效应,基于被加速离子在Child-Langmuir鞘层中与镜面碰撞后发射的快速反射H或D原子。 2. 样本选择与数据来源:测量在于利希的线性磁化等离子体装置PSI-2上进行。测试镜位于等离子体剖面的一个峰值处。 3. 实验设备与材料清单:使用前端光学系统和分辨率光谱仪进行快速原子的发射光谱分析。偏振测量使用了新的W镜。 4. 实验流程与操作步骤:测量在Ar-H混合等离子体中进行,其成分为1:1??焖僭拥姆⑸涔馄追治鍪褂们岸斯庋低澈头直媛使馄滓墙?。 5. 数据分析方法:红移和蓝移发射之间积分的比值给出了所需的反射率值。
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电话
单位名称
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