研究目的
基于摩擦纳米发电机（TENG）引发的气体放电研究Cd(OH)2@ZnO纳米线薄膜表面离子的调控及其在提升性能的薄膜晶体管（TFT）和薄膜光电探测器（TFP）开发中的应用。
研究成果
基于TENG的SIG技术通过调控半导体纳米结构表面的离子，能够开发出具有增强性能（如高开关比和快速恢复速度）的新型电子和光电子纳米器件。
研究不足
该研究的局限性在于O2-离子在空气中的非挥发性，需要紫外线照射才能实现可逆调制。O2-离子的吸附速率受表面特性和环境条件的影响。
1：实验设计与方法选择：
本研究利用摩擦纳米发电机（TENG）诱导气体放电来调控Cd(OH)2@ZnO纳米线薄膜表面的离子。纳米线通过水热法和原子层沉积（ALD）技术合成。
2：样品选择与数据来源：
制备了具有不同ALD生长周期ZnO壳层的Cd(OH)2@ZnO核壳纳米线薄膜器件。
3：实验设备与材料清单：
包括TENG、全波整流桥、钨放电针和纳米线薄膜器件。
4：实验步骤与操作流程：
信号调制通过TENG运行周期使O2-离子吸附在纳米线表面，作为浮栅。使用紫外光进行"擦除"操作。
5：数据分析方法：
电学性能采用Keithley 4200-SCS半导体特性分析系统测量，并计算光电流灵敏度、紫外增益和时间常数。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
Keithley 4200-SCS
4200-SCS
Keithley
Semiconductor characterization system for measuring electrical properties.
立即获取同款设备 -
Keithley 6514
6514
Keithley
Electrometer for measuring the quantity of charges.
暂无现货
预约到货通知
-
LED UV light source
M365FP1
Thorlabs, Inc.
UV light source with a center wavelength of 365 nm for illumination.
立即获取同款设备 -
SEM microscope
NOVA-450
FEI
Scanning-electron-microscopy for imaging nanowires thin-film.
暂无现货
预约到货通知
-
ALD system
Picosun-R200
Picosun
Atomic-layer-deposition system for growing ZnO shells on Cd(OH)2 nanowires.
暂无现货
预约到货通知
-
Cryogenic probe station
CRX-VF
Lake Shore Cryogenics
For measuring I-V curves at different temperatures.
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余4件设备及参数对照表
查看全部
