研究目的
研究多组分铁掺杂CdTe(S)体系的局域结构、电子结构和表面结构，以理解铁掺杂和氧化对材料性能的影响。
研究成果
铁优先替代碲化镉晶格中的镉，导致仅局限于铁邻近区域的局部畸变。在Cd0.99Fe0.01Te0.97S0.03中，近表面区域铁含量贫化而硫含量富集。研究采用一种无标样的XPS数据分析算法来评估深度方向非均匀表面的成分与结构，发现表面存在单层CdTeO3钝化层。
研究不足
该研究的局限性在于XPS测量对低浓度铁的检测灵敏度不足。分析假设每个区域（体相、氧化层、杂质层）均一且为单相组成，这可能无法涵盖实际样品中的所有复杂情况。
1：实验设计与方法选择：
采用X射线吸收精细结构（XAFS）、原子力显微镜（AFM）和X射线光电子能谱（XPS）研究局部结构与电子特性、表面成分及氧化机制。
2：样品选择与数据来源：
通过布里奇曼法生长晶体样品Cd0.99Fe0.01Te0.97S0.03（CFTS）和Cd0.97Fe0.03Te（CFT）。
3：99Fe01Te97S03（CFTS）和Cd97Fe03Te（CFT）。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：XAFS实验在德国电子同步加速器研究所（DESY）HASYLAB的C1光束线站完成；AFM图像使用配备Nanoscope IIIe控制器的Multimode quadrex SPM获?。籜PS测量在VSW XPS系统上进行。
4：实验流程与操作规范：
XAFS测试时样品与入射光束呈45°取向；采用AFM轻敲模式成像；XPS对未经化学处理的原始样品直接测量后进行溅射清洁。
5：数据分析方法：
XAFS数据处理使用ATHENA和ARTEMIS软件包；XPS数据分析采用适用于非均匀深度表面的无标样算法。
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获取完整内容-
Multimode quadrex SPM
Nanoscope IIIe controller
Veeco Instruments, Inc.
Acquiring surface topography and phase images
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AFM probe
SNC (Solid Nitride Cone)
NanoScience–Team Nanotec GmbH
Standard AFM tapping mode
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XPS system
VSW XPS system
Performing XPS measurements
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Ge–detector
7–segment
Collecting XAFS spectra
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