研究目的
研究锶对锶改性钛酸钙铜（CSCTO）结构、微观结构、介电及电学性能的影响，以探索其在超级电容器等储能器件中的潜在应用。
研究成果
CSCTO陶瓷具有立方对称性、高介电常数和低损耗特性，这归因于空间电荷极化和麦克斯韦-瓦格纳弛豫效应。该材料在超级电容器和微电子器件领域展现出应用潜力，其非德拜弛豫行为及与氧空位相关的活化能值得关注。未来工作可聚焦于提升性能以实现实际应用。
研究不足
该研究仅限于特定组分（5摩尔%锶掺杂）和合成方法；高温处理可能产生的潜在杂质或缺陷会影响结果；铁电回线显示出损耗行为，表明存在漏电流；可进一步探索掺杂水平和工艺条件的优化。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用高温陶瓷工艺路线合成CSCTO材料，通过X射线衍射仪、扫描电子显微镜、能谱仪、LCR测试仪和铁电测试仪进行结构、微观结构、介电及电学性能分析，并运用麦克斯韦-瓦格纳弛豫理论和阻抗谱等理论模型。
2：样品选择与数据来源：
样品以高纯度前驱体（碳酸锶、碳酸钙、氧化铜、二氧化钛）为原料，按特定粒径称量配比后经研磨、加热、压片及烧结制备而成。
3：实验设备与材料清单：
设备包括理学SmartLab X射线衍射仪、ZEISS EVO10扫描电镜（配能谱仪）、N4L LCR测试仪、Radiant Precision Premier-II铁电测试仪、液压机及管式炉；材料包含碳酸锶（纯度98%）、碳酸钙（纯度99%）、氧化铜（粒径<50nm，纯度99.99%）、二氧化钛（粒径<21nm，纯度99.99%）、聚乙烯醇粘结剂及银浆。
4：99%）、二氧化钛（粒径<21nm，纯度99%）、聚乙烯醇粘结剂及银浆。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：前驱体经研磨后600°C煅烧5小时并淬火，使用液压机制备压片，1200°C烧结12小时，通过XRD、SEM/EDS表征物相与形貌，LCR测试仪测量25-315°C温度范围及1kHz-2MHz频率下的电学性能，室温下测定铁电回线。
5：数据分析方法：
采用阻抗谱分析技术，通过ZSIMPWIN 2.0软件拟合奈奎斯特图，利用阿伦尼乌斯方程计算活化能，并应用多种介电性能与导电率公式进行数据处理。
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X-Ray diffractometer
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Structural analysis to identify phase and symmetry of the sample
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Surface morphology analysis and elemental composition via EDS
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